一种基于机器视觉的晶圆表面缺陷检测方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202210503637.7
申请日
2022-05-09
公开(公告)号
CN114910480B
公开(公告)日
2024-07-02
发明(设计)人
于乃功 李洪政 徐乔
申请人
北京工业大学
申请人地址
100124 北京市朝阳区平乐园100号
IPC主分类号
G01N21/88
IPC分类号
G01N21/95
代理机构
北京思海天达知识产权代理有限公司 11203
代理人
刘萍
法律状态
授权
国省代码
北京市 市辖区
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共 50 条
[1]
一种基于机器视觉的晶圆表面缺陷检测方法 [P]. 
于乃功 ;
李洪政 ;
徐乔 .
中国专利 :CN114910480A ,2022-08-16
[2]
一种基于视觉分析的晶圆表面缺陷智能检测方法 [P]. 
周春荣 ;
丁际友 .
中国专利 :CN118362562A ,2024-07-19
[3]
一种基于视觉分析的晶圆表面缺陷智能检测方法 [P]. 
周春荣 ;
丁际友 .
中国专利 :CN118362562B ,2025-03-18
[4]
一种基于机器视觉的晶圆表面缺陷检测方法、设备及存储介质 [P]. 
陈海龙 ;
陈加豪 ;
袁洪 .
中国专利 :CN119624961B ,2025-04-15
[5]
一种基于机器视觉的晶圆表面缺陷检测方法、设备及存储介质 [P]. 
陈海龙 ;
陈加豪 ;
袁洪 .
中国专利 :CN119624961A ,2025-03-14
[6]
一种晶圆表面缺陷智能检测方法、装置 [P]. 
张效栋 ;
朱琳琳 ;
程威盛 ;
刘现磊 .
中国专利 :CN116183623B ,2024-04-26
[7]
晶圆表面缺陷的视觉检测方法及系统 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN117808809A ,2024-04-02
[8]
晶圆表面缺陷的视觉检测方法及系统 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN117808809B ,2024-05-14
[9]
一种晶圆表面缺陷检测装置及晶圆表面缺陷检测方法 [P]. 
李守龙 ;
刘建华 ;
路中升 ;
罗强 .
中国专利 :CN113358662A ,2021-09-07
[10]
一种基于视觉图像的晶圆表面缺陷分区域检测方法 [P]. 
喻志勇 ;
王进 ;
郑涛 ;
陆国栋 .
中国专利 :CN110286126B ,2019-09-27