一种电池老化测试方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410778141.X

申请日：

2024-06-17

公开(公告)号：

CN118501759A

公开(公告)日：

2024-08-16

发明(设计)人：

李小华

申请人：

常州拜特测控技术有限公司

申请人地址：

213033 江苏省常州市新北区春江街道东海路202号滨江国际企业港2号楼

IPC主分类号：

G01R31/392

IPC分类号：

G01R31/382

代理机构：

北京维正专利代理有限公司 11508

代理人：

王婉芬

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-08-16	公开	公开
2024-09-03	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/392申请日:20240617

共 50 条

[1]

服务器产品的老化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

卢业勇 .

中国专利 :CN120743659A ,2025-10-03

[2]

性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

何品德 .

中国专利 :CN112612686A ,2021-04-06

[3]

测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

陆华 ;

郑鹰飞 ;

曹垒 ;

丁勇 ;

安鹏锦 ;

谷若兰 ;

沈文杰 .

中国专利 :CN112667510A ,2021-04-16

[4]

三电极电池充放电测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

李小华 ;

赵如松 .

中国专利 :CN118348422A ,2024-07-16

[5]

智能座舱测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

黄佳伟 .

中国专利 :CN118132420A ,2024-06-04

[6]

测试评估方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

石雅楠 ;

张文波 .

中国专利 :CN112163633A ,2021-01-01

[7]

测试评估方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

石雅楠 ;

张文波 .

中国专利 :CN112163633B ,2024-10-15

[8]

SSD老化测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

孙成思 ;

孙日欣 ;

李振华 ;

毛邦柱 ;

曹帆熙 .

中国专利 :CN112151106A ,2020-12-29

[9]

存储池测试方法、电子设备及存储介质 [P].

李夕玉 ;

马超群 .

中国专利 :CN120743714A ,2025-10-03

[10]

存储池测试方法、电子设备及存储介质 [P].

李夕玉 ;

马超群 .

中国专利 :CN120743714B ,2025-11-07

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