SSD老化测试方法、装置、存储介质及电子设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010940291.8

申请日：

2020-09-09

公开(公告)号：

CN112151106A

公开(公告)日：

2020-12-29

发明(设计)人：

孙成思孙日欣李振华毛邦柱曹帆熙

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区桃源街道同富裕工业城4号厂房1楼、2楼、4楼、5楼

IPC主分类号：

G11C2956

IPC分类号：

G01R3100

代理机构：

深圳市博锐专利事务所 44275

代理人：

郑昱

法律状态：

著录事项变更

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-04-29	著录事项变更	著录事项变更 IPC(主分类):G11C 29/56 变更事项:申请人变更前:深圳佰维存储科技股份有限公司变更后:深圳佰维存储科技股份有限公司变更事项:地址变更前:518000 广东省深圳市南山区桃源街道同富裕工业城4号厂房1楼、2楼、4楼、5楼变更后:518000 广东省深圳市南山区桃源街道平山社区留仙大道1213号众冠红花岭工业南区2区4、8栋1层-3层及4栋4层
2021-01-15	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G11C 29/56 申请日:20200909
2020-12-29	公开	公开

共 50 条

[1]

存储系统老化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

孟凡超 .

中国专利 :CN119201504A ,2024-12-27

[2]

电机的老化测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

付国强 ;

黄立伟 ;

李应浪 ;

江华彬 ;

李德森 .

中国专利 :CN113721144A ,2021-11-30

[3]

服务器老化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

杨祥 ;

王光乾 ;

张斌 ;

张超 ;

彭冬青 ;

平刚 ;

童军 ;

杨慈航 ;

肖瑶 ;

简晓龙 ;

王泽宇 ;

杨乾坤 ;

杨静轩 ;

张樱瀚 ;

李奥轩 .

中国专利 :CN120371664A ,2025-07-25

[4]

光伏组件老化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

吴菲菲 ;

王建明 ;

刘汪利 ;

章康平 ;

介雷 ;

周静 ;

张茜瑶 ;

蒋凯伦 ;

徐将博 ;

周锦凤 ;

曾箭豪 ;

代骏杰 ;

潘禹硕 ;

李家栋 ;

周小宝 ;

胥星星 ;

刘骏 ;

孙亚楠 ;

刘培培 ;

金浩 ;

姚川朋 ;

蔡敬国 ;

郑胜 ;

石剑 ;

冯维敏 ;

沈杰 ;

刘凯 .

中国专利 :CN119315935A ,2025-01-14

[5]

硅橡胶的老化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

张林军 ;

张思达 ;

李佩宁 ;

李崇瑞 ;

尹亚楠 .

中国专利 :CN119574411A ,2025-03-07

[6]

功率器件的老化测试方法、电子设备及存储介质 [P].

纪铭 .

中国专利 :CN121186552A ,2025-12-23

[7]

一种电池老化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

李小华 .

中国专利 :CN118501759A ,2024-08-16

[8]

一种芯片老化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

余超 ;

张军 ;

李丰军 ;

廖巨华 ;

丁星火 ;

周俊 .

中国专利 :CN119511033A ,2025-02-25

[9]

一种芯片老化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

余超 ;

张军 ;

李丰军 ;

廖巨华 ;

丁星火 ;

周俊 .

中国专利 :CN119511033B ,2025-07-22

[10]

老化处理方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

阳远才 ;

石一逴 ;

邵晓亮 .

中国专利 :CN118625081A ,2024-09-10

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