硅橡胶的老化测试方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411615776.4

申请日：

2024-11-13

公开(公告)号：

CN119574411A

公开(公告)日：

2025-03-07

发明(设计)人：

张林军张思达李佩宁李崇瑞尹亚楠

申请人：

江苏神马电力股份有限公司

申请人地址：

226017 江苏省南通市苏通科技产业园海维路66号

IPC主分类号：

G01N17/00

IPC分类号：

G01N5/04 G01N3/08

代理机构：

北京律和信知识产权代理事务所(普通合伙) 11446

代理人：

闫玉洁;何春晖

法律状态：

公开

国省代码：

江苏省南通市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-03-07	公开	公开
2025-03-25	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 17/00申请日:20241113

共 50 条

[1]

硅橡胶电缆的老化检测方法、装置、电子设备及介质 [P].

肖少伟 .

中国专利 :CN117871999A ,2024-04-12

[2]

硅橡胶电缆的老化检测方法、装置、电子设备及介质 [P].

肖少伟 .

中国专利 :CN117871999B ,2024-07-26

[3]

电机的老化测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

付国强 ;

黄立伟 ;

李应浪 ;

江华彬 ;

李德森 .

中国专利 :CN113721144A ,2021-11-30

[4]

SSD老化测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

孙成思 ;

孙日欣 ;

李振华 ;

毛邦柱 ;

曹帆熙 .

中国专利 :CN112151106A ,2020-12-29

[5]

存储系统老化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

孟凡超 .

中国专利 :CN119201504A ,2024-12-27

[6]

一种电池老化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

李小华 .

中国专利 :CN118501759A ,2024-08-16

[7]

功率器件的老化测试方法、电子设备及存储介质 [P].

纪铭 .

中国专利 :CN121186552A ,2025-12-23

[8]

服务器老化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

杨祥 ;

王光乾 ;

张斌 ;

张超 ;

彭冬青 ;

平刚 ;

童军 ;

杨慈航 ;

肖瑶 ;

简晓龙 ;

王泽宇 ;

杨乾坤 ;

杨静轩 ;

张樱瀚 ;

李奥轩 .

中国专利 :CN120371664A ,2025-07-25

[9]

光伏组件老化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

吴菲菲 ;

王建明 ;

刘汪利 ;

章康平 ;

介雷 ;

周静 ;

张茜瑶 ;

蒋凯伦 ;

徐将博 ;

周锦凤 ;

曾箭豪 ;

代骏杰 ;

潘禹硕 ;

李家栋 ;

周小宝 ;

胥星星 ;

刘骏 ;

孙亚楠 ;

刘培培 ;

金浩 ;

姚川朋 ;

蔡敬国 ;

郑胜 ;

石剑 ;

冯维敏 ;

沈杰 ;

刘凯 .

中国专利 :CN119315935A ,2025-01-14

[10]

测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

王芸红 .

中国专利 :CN120295843A ,2025-07-11

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