功率器件的老化测试方法、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202511112901.4

申请日：

2025-08-10

公开(公告)号：

CN121186552A

公开(公告)日：

2025-12-23

发明(设计)人：

纪铭

申请人：

武汉来末科技有限公司

申请人地址：

430000 湖北省武汉市汉阳区国博新城

IPC主分类号：

G01R31/26

IPC分类号：

代理机构：

代理人：

法律状态：

公开

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-12-23	公开	公开

共 50 条

[1]

一种功率模块的老化测试方法、电子设备及存储介质 [P].

邵航空 ;

肖大帅 .

中国专利 :CN120779158B ,2025-12-26

[2]

一种功率模块的老化测试方法、电子设备及存储介质 [P].

邵航空 ;

肖大帅 .

中国专利 :CN120779158A ,2025-10-14

[3]

芯片老化测试的监测方法、电子设备和存储介质 [P].

陈吉锋 ;

谈昳晔 ;

倪卫华 ;

郑朝晖 .

中国专利 :CN114062907A ,2022-02-18

[4]

电机的老化测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

付国强 ;

黄立伟 ;

李应浪 ;

江华彬 ;

李德森 .

中国专利 :CN113721144A ,2021-11-30

[5]

SSD老化测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

孙成思 ;

孙日欣 ;

李振华 ;

毛邦柱 ;

曹帆熙 .

中国专利 :CN112151106A ,2020-12-29

[6]

存储系统老化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

孟凡超 .

中国专利 :CN119201504A ,2024-12-27

[7]

硅橡胶的老化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

张林军 ;

张思达 ;

李佩宁 ;

李崇瑞 ;

尹亚楠 .

中国专利 :CN119574411A ,2025-03-07

[8]

关机功率测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

潘小红 ;

黎旭 ;

沈峻 .

中国专利 :CN114089026A ,2022-02-25

[9]

动态老化筛选方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

罗睿凡 ;

邝玉凤 .

:CN117991005A ,2024-05-07

[10]

一种功率器件的测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

吴佳蒙 ;

廖勇波 ;

李春艳 ;

马颖江 ;

宋德超 .

中国专利 :CN121231982A ,2025-12-30

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