一种功率模块的老化测试方法、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202511292056.3

申请日：

2025-09-11

公开(公告)号：

CN120779158A

公开(公告)日：

2025-10-14

发明(设计)人：

邵航空肖大帅

申请人：

西安精石电气科技有限公司

申请人地址：

710000 陕西省西安市高新区细柳街办上林苑三路29号领先万邦厂区内4号楼2层

IPC主分类号：

G01R31/00

IPC分类号：

G01R21/00

代理机构：

西安信达智合知识产权代理有限公司 61316

代理人：

黄涛

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

江苏省常州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-10-31	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/00申请日:20250911
2025-10-14	公开	公开
2025-12-26	授权	授权

共 50 条

[1]

一种功率模块的老化测试方法、电子设备及存储介质 [P].

邵航空 ;

肖大帅 .

中国专利 :CN120779158B ,2025-12-26

[2]

功率器件的老化测试方法、电子设备及存储介质 [P].

纪铭 .

中国专利 :CN121186552A ,2025-12-23

[3]

电机的老化测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

付国强 ;

黄立伟 ;

李应浪 ;

江华彬 ;

李德森 .

中国专利 :CN113721144A ,2021-11-30

[4]

储能变流器的老化状态测试方法、电子设备及存储介质 [P].

邵航空 ;

赵强立 .

中国专利 :CN120577636A ,2025-09-02

[5]

SSD老化测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

孙成思 ;

孙日欣 ;

李振华 ;

毛邦柱 ;

曹帆熙 .

中国专利 :CN112151106A ,2020-12-29

[6]

一种电池老化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

李小华 .

中国专利 :CN118501759A ,2024-08-16

[7]

一种芯片老化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

余超 ;

张军 ;

李丰军 ;

廖巨华 ;

丁星火 ;

周俊 .

中国专利 :CN119511033A ,2025-02-25

[8]

一种芯片老化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

余超 ;

张军 ;

李丰军 ;

廖巨华 ;

丁星火 ;

周俊 .

中国专利 :CN119511033B ,2025-07-22

[9]

一种烟具老化测试方法及系统、电子设备、存储介质 [P].

请求不公布姓名 ;

王永超 ;

刘才学 .

中国专利 :CN121231873A ,2025-12-30

[10]

碳化硅功率模块测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

王晓 ;

龙海洋 ;

庞久 .

中国专利 :CN119902047A ,2025-04-29

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