一种烟具老化测试方法及系统、电子设备、存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410844122.2

申请日：

2024-06-27

公开(公告)号：

CN121231873A

公开(公告)日：

2025-12-30

发明(设计)人：

请求不公布姓名王永超刘才学

申请人：

深圳市基克纳科技有限公司

申请人地址：

518126 广东省深圳市宝安区西乡街道劳动社区前海科兴科学园1号楼605

IPC主分类号：

G01R31/00

IPC分类号：

H02J7/00 G01R31/385 G01R19/165

代理机构：

北京集佳知识产权代理有限公司 11227

代理人：

林招师

法律状态：

公开

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-12-30	公开	公开

共 50 条

[1]

存储系统老化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

孟凡超 .

中国专利 :CN119201504A ,2024-12-27

[2]

SSD老化测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

孙成思 ;

孙日欣 ;

李振华 ;

毛邦柱 ;

曹帆熙 .

中国专利 :CN112151106A ,2020-12-29

[3]

一种电池老化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

李小华 .

中国专利 :CN118501759A ,2024-08-16

[4]

一种芯片老化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

余超 ;

张军 ;

李丰军 ;

廖巨华 ;

丁星火 ;

周俊 .

中国专利 :CN119511033A ,2025-02-25

[5]

一种芯片老化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

余超 ;

张军 ;

李丰军 ;

廖巨华 ;

丁星火 ;

周俊 .

中国专利 :CN119511033B ,2025-07-22

[6]

老化测试方法、老化测试系统及电子设备 [P].

王裕昌 ;

王延政 ;

周军 .

中国专利 :CN118483269A ,2024-08-13

[7]

电机的老化测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

付国强 ;

黄立伟 ;

李应浪 ;

江华彬 ;

李德森 .

中国专利 :CN113721144A ,2021-11-30

[8]

功率器件的老化测试方法、电子设备及存储介质 [P].

纪铭 .

中国专利 :CN121186552A ,2025-12-23

[9]

一种功率模块的老化测试方法、电子设备及存储介质 [P].

邵航空 ;

肖大帅 .

中国专利 :CN120779158B ,2025-12-26

[10]

一种功率模块的老化测试方法、电子设备及存储介质 [P].

邵航空 ;

肖大帅 .

中国专利 :CN120779158A ,2025-10-14

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