一种测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202323389529.0

申请日：

2023-12-12

公开(公告)号：

CN221527948U

公开(公告)日：

2024-08-13

发明(设计)人：

赖栋辉孔祥瑶张捷

申请人：

深圳市好盈科技股份有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市龙岗区宝龙街道宝龙社区诚信路8号亚森工业厂区4号厂房101-402

IPC主分类号：

G01M10/00

IPC分类号：

G01L5/00

代理机构：

深圳市六加知识产权代理有限公司 44372

代理人：

宋建平

法律状态：

授权

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-08-13	授权	授权

共 50 条

[1]

一种手机测试装置 [P].

李朝超 .

中国专利 :CN223488302U ,2025-10-28

[2]

一种雷达测试装置 [P].

成坤 ;

权立春 ;

李雷 ;

冯野 .

中国专利 :CN214041720U ,2021-08-24

[3]

一种样条测试装置 [P].

李春惠 ;

王小清 ;

谈源 ;

王志强 .

中国专利 :CN207937270U ,2018-10-02

[4]

一种接口测试装置 [P].

江超 ;

李丽霞 .

中国专利 :CN215894908U ,2022-02-22

[5]

一种静电放电测试装置 [P].

王东 ;

孙文艺 .

中国专利 :CN215375615U ,2021-12-31

[6]

一种LPDDR芯片测试装置 [P].

张亚伟 ;

李婷婷 .

中国专利 :CN223401005U ,2025-09-30

[7]

一种电器失效测试装置 [P].

刘学森 .

中国专利 :CN209432923U ,2019-09-24

[8]

一种卡簧疲劳测试装置 [P].

胡九洪 .

中国专利 :CN222232045U ,2024-12-24

[9]

一种量子芯片测试装置 [P].

杨长滨 ;

王杨淦 .

中国专利 :CN217491763U ,2022-09-27

[10]

一种电池寿命测试装置 [P].

陆群 ;

廖珂 .

中国专利 :CN207965093U ,2018-10-12

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