一种探针测试用承片台

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202323202000.3
申请日
2023-11-24
公开(公告)号
CN221261075U
公开(公告)日
2024-07-02
发明(设计)人
殷伟
申请人
无锡矽圆科技有限公司
申请人地址
214000 江苏省无锡市新吴区锡兴路16号A栋
IPC主分类号
G01R1/04
IPC分类号
G01R1/067 G01R31/28
代理机构
江苏无锡苏汇专利代理事务所(普通合伙) 32593
代理人
沈彬彬
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种WAT探针卡WAT测试用探针台 [P]. 
李杰 ;
殷军伟 .
中国专利 :CN222850654U ,2025-05-09
[2]
一种承片台及探针台 [P]. 
雷迪 ;
韦日文 ;
柯权珍 ;
肖乐 .
中国专利 :CN212620649U ,2021-02-26
[3]
一种承片台及探针台 [P]. 
王胜利 ;
李景均 ;
杨应俊 .
中国专利 :CN209590078U ,2019-11-05
[4]
一种芯片测试用探针台 [P]. 
李宝娟 .
中国专利 :CN220913180U ,2024-05-07
[5]
一种半导体器件测试用探针台 [P]. 
杨凯翔 ;
陈朝杰 ;
张文清 .
中国专利 :CN220419378U ,2024-01-30
[6]
一种晶圆测试用的探针台 [P]. 
阎文豪 ;
王建雄 .
中国专利 :CN217901939U ,2022-11-25
[7]
一种探针测试用固定治具 [P]. 
赵成兵 .
中国专利 :CN218412628U ,2023-01-31
[8]
一种探针测试用夹具 [P]. 
刘凡凡 .
中国专利 :CN217879354U ,2022-11-22
[9]
一种承片台及全自动探针台 [P]. 
林生财 ;
刘振辉 ;
王胜利 .
中国专利 :CN209858608U ,2019-12-27
[10]
一种承片台及半导体探针台 [P]. 
韦日文 ;
刘振辉 ;
王胜利 .
中国专利 :CN209446628U ,2019-09-27