一种铜箔缺陷检测方法以及介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202011237366.2

申请日：

2020-11-09

公开(公告)号：

CN112415014B

公开(公告)日：

2024-08-16

发明(设计)人：

张杰

申请人：

上海圣之尧智能科技有限公司

申请人地址：

201700 上海市青浦区华浦路500号6幢C区123室D座

IPC主分类号：

G01N21/88

IPC分类号：

代理机构：

北京领时辉专利代理事务所(普通合伙) 33330

代理人：

胡琳

法律状态：

授权

国省代码：

上海市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-08-16	授权	授权

共 50 条

[1]

一种铜箔缺陷检测方法以及介质 [P].

张杰 .

中国专利 :CN112415014A ,2021-02-26

[2]

一种铜箔缺陷检测系统 [P].

张杰 .

中国专利 :CN112415013A ,2021-02-26

[3]

一种铜箔缺陷检测系统 [P].

张杰 .

中国专利 :CN112415013B ,2024-11-15

[4]

一种铜箔缺陷检测方法 [P].

邵佩玉 ;

曹壮壮 ;

沈润杰 .

中国专利 :CN120318167A ,2025-07-15

[5]

一种铜箔实时缺陷检测方法 [P].

曹思缘 .

中国专利 :CN119399095A ,2025-02-07

[6]

一种缺陷检测方法、装置以及存储介质 [P].

张世琨 ;

叶蔚 ;

邓枭 ;

高庆 ;

张君福 .

中国专利 :CN112579477A ,2021-03-30

[7]

一种铜箔生产方法以及铜箔厚度检测方法、存储介质 [P].

黄勇 ;

廖平元 ;

温佳栋 ;

陈优昌 ;

丘鹏盛 ;

饶彬 .

中国专利 :CN114910127A ,2022-08-16

[8]

一种铜箔表面缺陷检测方法及装置 [P].

李衔洋 .

中国专利 :CN121147097A ,2025-12-16

[9]

一种缺陷检测方法、装置、设备以及存储介质 [P].

王士涛 ;

陈明明 ;

孙宇 .

中国专利 :CN118408940B ,2025-04-01

[10]

一种缺陷检测方法、装置、设备以及存储介质 [P].

盖顺华 ;

解三霞 ;

周钟海 ;

姚毅 ;

杨艺 .

中国专利 :CN114283132A ,2022-04-05

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