一种缺陷检测方法、装置、设备以及存储介质

被引：0

申请号：

CN202111572297.5

申请日：

2021-12-21

公开(公告)号：

CN114283132A

公开(公告)日：

2022-04-05

发明(设计)人：

盖顺华解三霞周钟海姚毅杨艺

申请人：

申请人地址：

215123 江苏省苏州市工业园区长阳街259号钟园工业坊A1-1F,A0-1F东侧一半

IPC主分类号：

G06T700

IPC分类号：

G06T711 G06T7136 G06T7155 G06T7194 G01N2188 G06V10764

代理机构：

北京品源专利代理有限公司 11332

代理人：

骆文欣

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-04-22	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20211221
2022-04-05	公开	公开

共 50 条

[1]

一种缺陷检测方法、装置、设备以及存储介质 [P].

王士涛 ;

陈明明 ;

孙宇 .

中国专利 :CN118408940B ,2025-04-01

[2]

一种缺陷检测方法、装置、设备以及存储介质 [P].

王士涛 ;

陈明明 ;

孙宇 .

中国专利 :CN118408940A ,2024-07-30

[3]

一种缺陷检测方法、装置以及存储介质 [P].

张世琨 ;

叶蔚 ;

邓枭 ;

高庆 ;

张君福 .

中国专利 :CN112579477A ,2021-03-30

[4]

一种缺陷检测方法、装置、存储介质以及电子设备 [P].

张武杰 ;

付发 .

中国专利 :CN118115438A ,2024-05-31

[5]

一种缺陷检测方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

陆佳磊 ;

李宝同 .

中国专利 :CN117745699A ,2024-03-22

[6]

一种缺陷检测方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

魏世峰 ;

方云 .

中国专利 :CN121010569A ,2025-11-25

[7]

缺陷检测方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

韩东禄 ;

黄书茂 ;

陈胜威 ;

陈志鹏 .

中国专利 :CN117538334A ,2024-02-09

[8]

缺陷检测方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

陈路燕 ;

聂磊 .

中国专利 :CN118212175A ,2024-06-18

[9]

缺陷检测方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

韩东禄 ;

黄书茂 ;

陈胜威 ;

陈志鹏 .

中国专利 :CN117538334B ,2024-05-24

[10]

缺陷检测方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

郭凯 ;

李小龙 ;

王锐拓 ;

刘伟星 ;

秦纬 ;

彭宽军 .

中国专利 :CN110349145B ,2019-10-18

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