一种缺陷检测方法、装置、设备以及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410512901.2

申请日：

2024-04-26

公开(公告)号：

CN118408940B

公开(公告)日：

2025-04-01

发明(设计)人：

王士涛陈明明孙宇

申请人：

苏州苏映视图像软件科技有限公司

申请人地址：

215000 江苏省苏州市苏州工业园区星明街218号R幢

IPC主分类号：

G01N21/88

IPC分类号：

代理机构：

北京品源专利代理有限公司 11332

代理人：

陈浩

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

江苏省苏州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-08-16	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/88申请日:20240426
2025-04-01	授权	授权
2024-07-30	公开	公开

共 50 条

[1]

一种缺陷检测方法、装置、设备以及存储介质 [P].

王士涛 ;

陈明明 ;

孙宇 .

中国专利 :CN118408940A ,2024-07-30

[2]

一种缺陷检测方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

陆佳磊 ;

李宝同 .

中国专利 :CN117745701A ,2024-03-22

[3]

一种缺陷检测方法、装置、设备以及存储介质 [P].

盖顺华 ;

解三霞 ;

周钟海 ;

姚毅 ;

杨艺 .

中国专利 :CN114283132A ,2022-04-05

[4]

一种缺陷数据融合方法、装置、设备、存储介质以及一种缺陷检测方法 [P].

陈鲁 ;

刘琦然 ;

朱燕明 ;

杜爽 ;

张龙 ;

黄有为 .

中国专利 :CN120688002A ,2025-09-23

[5]

一种缺陷检测方法、装置以及存储介质 [P].

张世琨 ;

叶蔚 ;

邓枭 ;

高庆 ;

张君福 .

中国专利 :CN112579477A ,2021-03-30

[6]

一种缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

陈晓琳 ;

褚哲 ;

陈一聪 ;

何淼 ;

赵康宁 ;

梁鑫杰 .

中国专利 :CN120635652A ,2025-09-12

[7]

缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

冯玮 ;

张一凡 .

中国专利 :CN117853418A ,2024-04-09

[8]

缺陷检测方法、装置、设备和存储介质 [P].

邢连萍 .

中国专利 :CN117372321A ,2024-01-09

[9]

缺陷检测方法及存储介质 [P].

李聪 ;

李勃志 ;

任秦 ;

赵小波 .

中国专利 :CN120525884B ,2025-10-03

[10]

缺陷检测方法及存储介质 [P].

李聪 ;

李勃志 ;

任秦 ;

赵小波 .

中国专利 :CN120525884A ,2025-08-22

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