一种缺陷数据融合方法、装置、设备、存储介质以及一种缺陷检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510773178.8

申请日：

2025-06-10

公开(公告)号：

CN120688002A

公开(公告)日：

2025-09-23

发明(设计)人：

陈鲁刘琦然朱燕明杜爽张龙黄有为

申请人：

广州中科飞测科技有限公司

申请人地址：

510555 广东省广州市黄埔区（中新广州知识城）亿创街1号406房之502

IPC主分类号：

G06F18/25

IPC分类号：

G06F18/22 G06F18/24 G06F18/23

代理机构：

北京集佳知识产权代理有限公司 11227

代理人：

马天琪

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-10-14	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 18/25申请日:20250610
2025-09-23	公开	公开

共 50 条

[1]

一种缺陷检测方法、装置、设备以及存储介质 [P].

王士涛 ;

陈明明 ;

孙宇 .

中国专利 :CN118408940B ,2025-04-01

[2]

一种缺陷检测方法、装置、设备以及存储介质 [P].

王士涛 ;

陈明明 ;

孙宇 .

中国专利 :CN118408940A ,2024-07-30

[3]

一种缺陷检测方法、装置、设备以及存储介质 [P].

盖顺华 ;

解三霞 ;

周钟海 ;

姚毅 ;

杨艺 .

中国专利 :CN114283132A ,2022-04-05

[4]

一种缺陷检测方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

陆佳磊 ;

李宝同 .

中国专利 :CN117745701A ,2024-03-22

[5]

一种缺陷检测方法、装置以及存储介质 [P].

张世琨 ;

叶蔚 ;

邓枭 ;

高庆 ;

张君福 .

中国专利 :CN112579477A ,2021-03-30

[6]

一种缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

陈晓琳 ;

褚哲 ;

陈一聪 ;

何淼 ;

赵康宁 ;

梁鑫杰 .

中国专利 :CN120635652A ,2025-09-12

[7]

一种缺陷检测方法和缺陷检测装置、存储介质 [P].

陈鲁 ;

谢云 ;

李艳波 ;

杨乐 .

中国专利 :CN120413449A ,2025-08-01

[8]

一种产品缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

马学睿 .

中国专利 :CN120689341A ,2025-09-23

[9]

一种缺陷检测方法、装置、存储介质以及电子设备 [P].

张武杰 ;

付发 .

中国专利 :CN118115438A ,2024-05-31

[10]

一种缺陷检测方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

陆佳磊 ;

李宝同 .

中国专利 :CN117745699A ,2024-03-22

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