学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审
测试装置以及测试方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202310472049.6
申请日
:
2023-04-27
公开(公告)号
:
CN118625092A
公开(公告)日
:
2024-09-10
发明(设计)人
:
张冠程
申请人
:
华邦电子股份有限公司
申请人地址
:
中国台湾台中市大雅区科雅一路8号
IPC主分类号
:
G01R31/28
IPC分类号
:
代理机构
:
北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205
代理人
:
杨俊辉;刘芳
法律状态
:
公开
国省代码
:
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-09-10
公开
公开
2024-09-27
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20230427
共 50 条
[1]
测试装置以及测试方法
[P].
何羽轩
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
新唐科技股份有限公司
新唐科技股份有限公司
何羽轩
.
中国专利
:CN120446702A
,2025-08-08
[2]
测试装置以及测试方法
[P].
小泽大树
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
小泽大树
;
佐藤新哉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
佐藤新哉
.
中国专利
:CN101310342A
,2008-11-19
[3]
测试装置以及测试方法
[P].
土井优
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
土井优
;
佐藤新哉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
佐藤新哉
.
中国专利
:CN101147205A
,2008-03-19
[4]
测试方法、测试装置以及测试系统
[P].
陈志和
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈志和
;
陈郁婷
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈郁婷
.
中国专利
:CN109921862B
,2019-06-21
[5]
测试装置以及测试方法
[P].
饭岛匡史
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
日置电机株式会社
日置电机株式会社
饭岛匡史
;
木村英明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
日置电机株式会社
日置电机株式会社
木村英明
.
日本专利
:CN120265998A
,2025-07-04
[6]
测试装置以及测试方法
[P].
大空聡
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
大空聡
;
中川哲郎
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
中川哲郎
;
角田慎
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
角田慎
;
高岩伸贤
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
高岩伸贤
.
中国专利
:CN100559204C
,2006-08-16
[7]
测试装置以及测试方法
[P].
张藏文
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张藏文
;
朱鹏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
朱鹏
.
中国专利
:CN107863302A
,2018-03-30
[8]
测试装置、以及测试方法
[P].
大岛直哉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
日挥株式会社
日挥株式会社
大岛直哉
.
日本专利
:CN119654554A
,2025-03-18
[9]
测试装置以及测试方法
[P].
丘向忠
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
丘向忠
;
梁金
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
梁金
.
中国专利
:CN101520372A
,2009-09-02
[10]
测试装置以及测试方法
[P].
市吉清司
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
市吉清司
.
中国专利
:CN101231325B
,2008-07-30
←
1
2
3
4
5
→