一种用于曲面光栅基底坐标测量的测量装置以及测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410441407.1

申请日：

2024-04-12

公开(公告)号：

CN118258337A

公开(公告)日：

2024-06-28

发明(设计)人：

李文昊梁烘智于宏柱于硕王锐博张博白雪龙

申请人：

中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

申请人地址：

130033 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号

IPC主分类号：

G01B21/00

IPC分类号：

代理机构：

长春中科长光知识产权代理事务所(普通合伙) 22218

代理人：

高一明

法律状态：

公开

国省代码：

北京市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-06-28	公开	公开
2024-07-16	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01B 21/00申请日:20240412

共 50 条

[1]

一种曲面坐标测量装置及测量方法 [P].

吴发友 ;

刘明维 ;

阿比尔的 ;

曾启富 ;

韩亚峰 ;

刘洁 ;

陈霓锐 .

中国专利 :CN117606328A ,2024-02-27

[2]

一种曲面坐标的测量装置及测量方法 [P].

袁起航 ;

王波 ;

应培 ;

李权 ;

梁浩 .

中国专利 :CN117722922A ,2024-03-19

[3]

一种曲面测量装置及测量方法 [P].

尚谦 ;

贾龙 ;

李倩 ;

樊晓宁 ;

齐悦彤 ;

王海波 ;

刘立华 ;

程誉卓 ;

戴航 ;

张礼 .

中国专利 :CN119103991A ,2024-12-10

[4]

估值装置、测量设备以及路径长度测量方法和测量系统以及用于坐标测量装置的方法和坐标测量装置 [P].

B.斯普拉克 ;

F.霍勒 ;

C.阿尔瓦雷兹迪兹 .

中国专利 :CN102803989A ,2012-11-28

[5]

用于测量复杂曲面的三坐标机测量方法及其装置 [P].

陈其伟 ;

李明 .

中国专利 :CN100453969C ,2006-07-12

[6]

曲面测量装置和测量方法 [P].

翟泳通 .

中国专利 :CN101354242B ,2009-01-28

[7]

坐标测量方法和坐标测量系统 [P].

罗伯特·E·布里奇斯 .

中国专利 :CN101427153B ,2009-05-06

[8]

一种工件的三坐标测量装置及其测量方法 [P].

黄伟 ;

张桂来 ;

黄婧瑶 .

中国专利 :CN118936382A ,2024-11-12

[9]

微粒测量方法、用于测量的基板、以及测量装置 [P].

古木基裕 ;

今西慎吾 ;

筱田昌孝 ;

铃木明俊 ;

三宅和司 .

中国专利 :CN101424612A ,2009-05-06

[10]

测量装置以及测量方法 [P].

井上胜 ;

本间彰 .

中国专利 :CN1854681B ,2006-11-01

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