数据检验方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410631452.3

申请日：

2024-05-21

公开(公告)号：

CN118585514A

公开(公告)日：

2024-09-03

发明(设计)人：

刘义顺郝金隆蓝文良黄川

申请人：

重庆长安科技有限责任公司

申请人地址：

401135 重庆市渝北区两江新区龙兴镇现代大道120号1幢

IPC主分类号：

G06F16/215

IPC分类号：

H04L67/12

代理机构：

北京华夏泰和知识产权代理有限公司 11662

代理人：

刘立志

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-09-20	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 16/215申请日:20240521
2024-09-03	公开	公开

共 50 条

[1]

核数据检验方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

陈胜利 ;

王天翔 .

中国专利 :CN119377855A ,2025-01-28

[2]

核数据检验方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

陈胜利 ;

王天翔 .

中国专利 :CN119377855B ,2025-11-28

[3]

数据关联及检验方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

廖静 ;

李寻 ;

韦日珍 ;

林迪 ;

张晶 ;

谢战诚 ;

钟国超 .

中国专利 :CN112445875B ,2024-03-01

[4]

数据关联及检验方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

廖静 ;

李寻 ;

韦日珍 ;

林迪 ;

张晶 ;

谢战诚 ;

钟国超 .

中国专利 :CN112445875A ,2021-03-05

[5]

存储设备检验方法、电子设备及存储介质 [P].

卞瑶 ;

李水青 ;

张碧 .

中国专利 :CN120015099A ,2025-05-16

[6]

数据质量检验方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

孙中科 ;

徐健 .

中国专利 :CN113361265B ,2024-05-28

[7]

数据质量检验方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

孙中科 ;

徐健 .

中国专利 :CN113361265A ,2021-09-07

[8]

数据质量检验方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

李旭阳 .

中国专利 :CN113360491A ,2021-09-07

[9]

数据质量检验方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

李旭阳 .

中国专利 :CN113360491B ,2024-03-29

[10]

规则检验方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

葛宝龙 ;

李张体 ;

李新花 ;

邓欣 ;

邹大伟 ;

陶俊 ;

王天暘 ;

李宇涵 ;

袁冶 .

中国专利 :CN115705594A ,2023-02-17

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