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数据质量检验方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202110773499.X
申请日：
2021-07-08
公开(公告)号：
CN113361265B
公开(公告)日：
2024-05-28
发明(设计)人：
孙中科 徐健
申请人：
北京乐学帮网络技术有限公司
申请人地址：
100000 北京市海淀区西北旺东路10号院东区7号楼1层W105
IPC主分类号：
G06F40/226
IPC分类号：
G06F40/232
代理机构：
北京超凡宏宇知识产权代理有限公司 11463
代理人：
衡滔
法律状态：
授权
国省代码：
北京市 市辖区
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2024-05-28 授权 授权
共 50 条
[1]
数据质量检验方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
孙中科 ;
徐健 .
中国专利 :CN113361265A ,2021-09-07
[2]
数据质量检验方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
李旭阳 .
中国专利 :CN113360491A ,2021-09-07
[3]
数据质量检验方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
李旭阳 .
中国专利 :CN113360491B ,2024-03-29
[4]
车辆质量检验方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
贺成莉 ;
沈沉 .
中国专利 :CN121073270A ,2025-12-05
[5]
数据质量校验方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
李春毅 .
中国专利 :CN108647358A ,2018-10-12
[6]
数据检验方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
刘义顺 ;
郝金隆 ;
蓝文良 ;
黄川 .
中国专利 :CN118585514A ,2024-09-03
[7]
芯片粘接质量检验方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
王小平 ;
曹万 ;
李凡亮 ;
吴登峰 ;
夏令 .
中国专利 :CN113506758A ,2021-10-15
[8]
芯片粘接质量检验方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
王小平 ;
曹万 ;
李凡亮 ;
吴登峰 ;
夏令 .
中国专利 :CN113506758B ,2024-08-09
[9]
数据质量校验方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
甘乐 ;
赵鹏举 .
中国专利 :CN117632928A ,2024-03-01
[10]
数据质量校验方法、系统、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
欧阳翅 ;
张乘鹏 .
中国专利 :CN120541063A ,2025-08-26
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