数据质量检验方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110736453.0

申请日：

2021-06-30

公开(公告)号：

CN113360491A

公开(公告)日：

2021-09-07

发明(设计)人：

李旭阳

申请人：

申请人地址：

310024 浙江省杭州市转塘科技经济区块16号4幢326室

IPC主分类号：

G06F16215

IPC分类号：

G06F1622 G06F1625

代理机构：

北京博思佳知识产权代理有限公司 11415

代理人：

刘秀玲

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-09-07	公开	公开
2021-09-24	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 16/215 申请日:20210630

共 50 条

[1]

数据质量检验方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

李旭阳 .

中国专利 :CN113360491B ,2024-03-29

[2]

数据质量检验方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

孙中科 ;

徐健 .

中国专利 :CN113361265A ,2021-09-07

[3]

数据质量检验方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

孙中科 ;

徐健 .

中国专利 :CN113361265B ,2024-05-28

[4]

车辆质量检验方法、装置、设备及存储介质 [P].

贺成莉 ;

沈沉 .

中国专利 :CN121073270A ,2025-12-05

[5]

数据关联及检验方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

廖静 ;

李寻 ;

韦日珍 ;

林迪 ;

张晶 ;

谢战诚 ;

钟国超 .

中国专利 :CN112445875B ,2024-03-01

[6]

数据关联及检验方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

廖静 ;

李寻 ;

韦日珍 ;

林迪 ;

张晶 ;

谢战诚 ;

钟国超 .

中国专利 :CN112445875A ,2021-03-05

[7]

数据检验方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

刘义顺 ;

郝金隆 ;

蓝文良 ;

黄川 .

中国专利 :CN118585514A ,2024-09-03

[8]

芯片粘接质量检验方法、装置、设备及存储介质 [P].

王小平 ;

曹万 ;

李凡亮 ;

吴登峰 ;

夏令 .

中国专利 :CN113506758A ,2021-10-15

[9]

芯片粘接质量检验方法、装置、设备及存储介质 [P].

王小平 ;

曹万 ;

李凡亮 ;

吴登峰 ;

夏令 .

中国专利 :CN113506758B ,2024-08-09

[10]

数据校验方法及装置、存储介质、电子设备 [P].

马腾 ;

周海瓯 ;

俞雪峰 ;

马君鸣 ;

赵尔泰 .

中国专利 :CN117707835A ,2024-03-15

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