一种芯片推拉力测试仪

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202323015861.0
申请日
2023-11-08
公开(公告)号
CN221224440U
公开(公告)日
2024-06-25
发明(设计)人
陈卫国
申请人
惠的半导体(上海)有限公司
申请人地址
201108 上海市闵行区春中路566号1幢102室
IPC主分类号
G01N3/10
IPC分类号
G01N3/02 G01N3/04
代理机构
北京知了蝉专利代理事务所(普通合伙) 11959
代理人
曾亚容
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种芯片推拉力测试仪 [P]. 
韩力 .
中国专利 :CN210052716U ,2020-02-11
[2]
推拉力测试仪 [P]. 
蒋忠伟 .
中国专利 :CN210775019U ,2020-06-16
[3]
一种推拉力测试仪 [P]. 
罗郁南 .
中国专利 :CN202793665U ,2013-03-13
[4]
推拉力测试仪的拉力测试部 [P]. 
蒋忠伟 .
中国专利 :CN210427227U ,2020-04-28
[5]
一种推拉力测试仪 [P]. 
潘馨瑶 ;
潘红文 ;
刘远征 .
中国专利 :CN218350004U ,2023-01-20
[6]
电动推杆推拉力测试仪 [P]. 
徐雁 .
中国专利 :CN204988720U ,2016-01-20
[7]
一种用于芯片推拉力测试仪的清洁装置 [P]. 
刘召满 .
中国专利 :CN210450221U ,2020-05-05
[8]
卧式推拉力测试仪 [P]. 
江林 ;
赵兰兰 ;
顾共恩 ;
严湘 ;
吴振英 .
中国专利 :CN102033017B ,2011-04-27
[9]
推拉力测试仪的推力测试部 [P]. 
蒋忠伟 .
中国专利 :CN210401051U ,2020-04-24
[10]
一种便于携带的推拉力测试仪 [P]. 
杜正平 ;
程堋 ;
杨鹏霖 .
中国专利 :CN209372596U ,2019-09-10