一种芯片推拉力测试仪

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202323015861.0
申请日
2023-11-08
公开(公告)号
CN221224440U
公开(公告)日
2024-06-25
发明(设计)人
陈卫国
申请人
惠的半导体(上海)有限公司
申请人地址
201108 上海市闵行区春中路566号1幢102室
IPC主分类号
G01N3/10
IPC分类号
G01N3/02 G01N3/04
代理机构
北京知了蝉专利代理事务所(普通合伙) 11959
代理人
曾亚容
法律状态
授权
国省代码
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