控制晶圆沉积薄膜厚度均匀性的沉积设备及方法

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专利类型
发明
申请号
CN202410917090.4
申请日
2024-07-10
公开(公告)号
CN118460990A
公开(公告)日
2024-08-09
发明(设计)人
刘丹 耿超
申请人
江苏邑文微电子科技有限公司 无锡邑文微电子科技股份有限公司
申请人地址
226000 江苏省南通市如东县掘港街道金山路1号
IPC主分类号
C23C16/52
IPC分类号
C23C16/458 C23C16/455 C23C16/54 H01L23/31 H01L23/498 H01L25/16
代理机构
哈尔滨市阳光惠远知识产权代理有限公司 23211
代理人
张勇
法律状态
公开
国省代码
江苏省 南通市
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共 50 条
[1]
控制晶圆沉积薄膜厚度均匀性的沉积设备及方法 [P]. 
刘丹 ;
耿超 .
中国专利 :CN118460990B ,2024-10-08
[2]
一种提高晶圆表面所沉积薄膜厚度均匀性的气相沉积设备 [P]. 
程勇鹏 ;
刘巾溆 ;
郑隆跃 ;
邓良耀 ;
高大为 .
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[3]
调控晶圆原子层化学沉积薄膜厚度均匀性的方法 [P]. 
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王晓康 ;
许锐 ;
黄杰 ;
张宾 .
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[4]
调控晶圆原子层化学沉积薄膜厚度均匀性的方法 [P]. 
王瑞瀚 ;
王晓康 ;
许锐 ;
黄杰 ;
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中国专利 :CN115572956B ,2024-09-17
[5]
一种晶圆薄膜沉积治具及晶圆薄膜沉积设备 [P]. 
白喜青 ;
颜吉祥 .
中国专利 :CN220999827U ,2024-05-24
[6]
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周伟杰 ;
张洋 ;
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中国专利 :CN119786402A ,2025-04-08
[7]
晶圆托盘、薄膜沉积设备及方法 [P]. 
周伟杰 ;
张洋 ;
李文吉 ;
徐少杰 .
中国专利 :CN119663244A ,2025-03-21
[8]
薄膜沉积设备及薄膜沉积设备的控制方法 [P]. 
刘洋 ;
任兴润 ;
何丹丹 ;
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[9]
晶圆薄膜沉积设备及靶材更换方法 [P]. 
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中国专利 :CN120967311A ,2025-11-18
[10]
晶圆薄膜沉积制备系统 [P]. 
邵志锋 ;
李辉 .
中国专利 :CN223660200U ,2025-12-12