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一种芯片上料设备及芯片测试系统

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202410515850.9
申请日：
2024-04-26
公开(公告)号：
CN118330438A
公开(公告)日：
2024-07-12
发明(设计)人：
黄建军 赵山 吴永红 孙成扬 唐仁伟
申请人：
苏州联讯仪器股份有限公司
申请人地址：
215129 江苏省苏州市苏州高新区湘江路1508号5幢
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
B65G49/07
代理机构：
北京智汇东方知识产权代理事务所(普通合伙) 11391
代理人：
赵云秀
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
江苏省 常州市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2024-07-30 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20240426
2024-07-12 公开 公开
共 50 条
[1]
一种芯片上料设备及芯片测试系统 [P]. 
赵山 ;
黄建军 ;
吴永红 ;
孙成扬 ;
唐仁伟 .
中国专利 :CN118393321A ,2024-07-26
[2]
一种芯片上料设备及芯片测试系统 [P]. 
赵山 ;
黄建军 ;
吴永红 ;
孙成扬 ;
唐仁伟 .
中国专利 :CN222354019U ,2025-01-14
[3]
一种芯片测试设备及芯片测试系统 [P]. 
吴永红 ;
黄建军 ;
赵山 ;
陈建丛 ;
孙钦华 .
中国专利 :CN222354016U ,2025-01-14
[4]
一种芯片测试治具及芯片测试系统 [P]. 
黄建军 ;
赵山 ;
吴永红 ;
孙成扬 ;
孙钦华 .
中国专利 :CN222353962U ,2025-01-14
[5]
一种用于芯片测试的芯片上料设备 [P]. 
杨烨尧 ;
王思露 ;
魏巍 ;
武棣 ;
谢金存 .
中国专利 :CN120300041A ,2025-07-11
[6]
一种芯片测试方法及芯片测试系统 [P]. 
卢苗 .
中国专利 :CN119805160B ,2025-09-19
[7]
一种芯片测试模块及芯片测试系统 [P]. 
赵仕斌 ;
钟兴和 ;
喻梦婷 .
中国专利 :CN215641645U ,2022-01-25
[8]
一种芯片测试方法及芯片测试系统 [P]. 
卢苗 .
中国专利 :CN119805160A ,2025-04-11
[9]
一种芯片测试转接设备和芯片测试系统 [P]. 
于福振 ;
黄征 ;
张文丽 ;
孙铁 ;
杨姣 ;
黄新东 ;
请求不公布姓名 ;
张飞飞 ;
张亮 .
中国专利 :CN221303390U ,2024-07-09
[10]
芯片测试方法及芯片测试系统 [P]. 
孙文琪 ;
高伟 .
中国专利 :CN118519843B ,2024-12-06
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