一种用于芯片测试的芯片上料设备

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专利类型
发明
申请号
CN202510453456.1
申请日
2025-04-11
公开(公告)号
CN120300041A
公开(公告)日
2025-07-11
发明(设计)人
杨烨尧 王思露 魏巍 武棣 谢金存
申请人
苏州昱丰原智能科技有限公司
申请人地址
215011 江苏省苏州市苏州高新区枫桥镇御前路5号
IPC主分类号
H01L21/677
IPC分类号
H01L21/66
代理机构
江苏予捷专利代理有限公司 32781
代理人
钱世沛
法律状态
公开
国省代码
江苏省 常州市
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共 50 条
[1]
一种用于芯片测试的芯片收料设备 [P]. 
杨烨尧 ;
王思露 ;
魏巍 ;
武棣 ;
谢金存 .
中国专利 :CN120172094A ,2025-06-20
[2]
一种芯片上料设备及芯片测试系统 [P]. 
赵山 ;
黄建军 ;
吴永红 ;
孙成扬 ;
唐仁伟 .
中国专利 :CN118393321A ,2024-07-26
[3]
一种芯片上料设备及芯片测试系统 [P]. 
赵山 ;
黄建军 ;
吴永红 ;
孙成扬 ;
唐仁伟 .
中国专利 :CN222354019U ,2025-01-14
[4]
一种芯片上料设备及芯片测试系统 [P]. 
黄建军 ;
赵山 ;
吴永红 ;
孙成扬 ;
唐仁伟 .
中国专利 :CN118330438A ,2024-07-12
[5]
一种用于芯片测试的设备 [P]. 
黄祥恩 ;
周永燊 ;
孙浩铭 .
中国专利 :CN213122201U ,2021-05-04
[6]
一种高供给效率的芯片测试设备用芯片上料装置 [P]. 
熊侠宾 ;
刘雄丰 ;
熊爱娣 ;
刘章明 .
中国专利 :CN119750200B ,2025-06-06
[7]
一种高供给效率的芯片测试设备用芯片上料装置 [P]. 
熊侠宾 ;
刘雄丰 ;
熊爱娣 ;
刘章明 .
中国专利 :CN119750200A ,2025-04-04
[8]
一种用于芯片测试的测试治具及芯片测试设备 [P]. 
文根发 ;
金鹏 .
中国专利 :CN118980913A ,2024-11-19
[9]
一种芯片测试设备 [P]. 
黄思琪 ;
宋克江 ;
闫大鹏 .
中国专利 :CN111965520A ,2020-11-20
[10]
一种芯片测试设备 [P]. 
魏秀强 ;
彭琪 ;
黄思琪 ;
宋克江 ;
闫大鹏 .
中国专利 :CN111965519A ,2020-11-20