接触式厚度测量装置、使用该装置的系统及其测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010236288.8

申请日：

2020-03-30

公开(公告)号：

CN111272058B

公开(公告)日：

2024-06-21

发明(设计)人：

叶胜钱周新聊李涛夏滨张生海田勇杨海明

申请人：

北京二十一世纪科技发展有限公司

申请人地址：

100096 北京市海淀区建材城东路26号

IPC主分类号：

G01B7/06

IPC分类号：

代理机构：

北京开阳星知识产权代理有限公司 11710

代理人：

杨中鹤

法律状态：

授权

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-06-21	授权	授权

共 50 条

[1]

接触式厚度测量装置、使用该装置的系统及其测量方法 [P].

叶胜钱 ;

周新聊 ;

李涛 ;

夏滨 ;

张生海 ;

田勇 ;

杨海明 .

中国专利 :CN111272058A ,2020-06-12

[2]

接触式厚度测量装置及使用该装置的系统 [P].

叶胜钱 ;

周新聊 ;

李涛 ;

夏滨 ;

张生海 ;

田勇 ;

杨海明 .

中国专利 :CN212082277U ,2020-12-04

[3]

光纤干涉式厚度测量装置及其测量方法 [P].

林志泉 .

中国专利 :CN1796929A ,2006-07-05

[4]

厚度测量装置、系统及测量方法 [P].

郑宇现 ;

周娜 ;

李俊杰 ;

杨涛 ;

李俊峰 ;

王文武 .

中国专利 :CN111649680A ,2020-09-11

[5]

厚度测量装置及测量方法 [P].

郭志鑫 ;

陈华 ;

李未 ;

陈新喜 ;

沈健 ;

王欣 ;

何建军 ;

何超 ;

黄国翃 ;

支霄翔 ;

余林峰 ;

许浒 .

中国专利 :CN103940327A ,2014-07-23

[6]

光点差分式非接触式元件厚度测量的光头、厚度测量装置及测量方法 [P].

王善忠 ;

曹兆楼 .

中国专利 :CN110274545B ,2024-07-16

[7]

光点差分式非接触式元件厚度测量的光头、厚度测量装置及测量方法 [P].

王善忠 ;

曹兆楼 .

中国专利 :CN110274545A ,2019-09-24

[8]

接触式厚度测量装置 [P].

杨柯香 .

中国专利 :CN114812345A ,2022-07-29

[9]

厚度测量装置和厚度测量方法 [P].

金在完 ;

金钟安 ;

姜宙植 ;

陈宗汉 .

中国专利 :CN104279969A ,2015-01-14

[10]

厚度测量装置及厚度测量方法 [P].

丰田一贵 ;

泽村义巳 .

日本专利 :CN114325734B ,2025-02-25

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