増幅回路およびそれを備える質量分析装置[ja]

被引：0

申请号：

JP20220196887

申请日：

2022-12-09

公开(公告)号：

JP2024082786A

公开(公告)日：

2024-06-20

发明(设计)人：

OHARA TAKUYA NISHIMOTO TAKUMA FURUYA ISAO

申请人：

HITACHI HIGH TECH CORP

申请人地址：

IPC主分类号：

H03F1/56

IPC分类号：

H01J49/02 H03F3/30

代理机构：

代理人：

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法律状态信息

共 50 条

[1]

イオン源、およびそれを備える質量分析装置[ja] [P].

日本专利 :JP5777062B2 ,2015-09-09

[2]

イオン源、およびそれを備える質量分析装置[ja] [P].

日本专利 :JPWO2010109907A1 ,2012-09-27

[3]

密閉室及びそれを備える質量分析装置[ja] [P].

日本专利 :JP3208331U ,2017-01-05

[4]

質量分析装置および質量分析方法[ja] [P].

日本专利 :JPWO2010044247A1 ,2012-03-15

[5]

質量分析装置、および質量分析方法[ja] [P].

SUGIYAMA MASUYUKI ;

KUMANO SHUN ;

NOJIMA AKIHIRO .

日本专利 :JP2024016359A ,2024-02-07

[6]

試料保持具およびそれを備える分析装置[ja] [P].

日本专利 :JP6323272B2 ,2018-05-16

[7]

試料保持具およびそれを備える分析装置[ja] [P].

日本专利 :JP7095547B2 ,2022-07-05

[8]

前処理装置及びそれを備えた質量分析装置[ja] [P].

日本专利 :JPWO2010150842A1 ,2012-12-10

[9]

真空装置及びこれを備えた質量分析装置[ja] [P].

日本专利 :JP6323321B2 ,2018-05-16

[10]

質量分析装置および質量分析方法[ja] [P].

日本专利 :JPWO2012067195A1 ,2014-05-19

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