成像装置和校准方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201980076885.4

申请日：

2019-12-09

公开(公告)号：

CN113167656B

公开(公告)日：

2024-10-22

发明(设计)人：

古坂拓朗河津直树冈巧

申请人：

索尼半导体解决方案公司

申请人地址：

日本神奈川县

IPC主分类号：

G01K7/00

IPC分类号：

G01K7/01 H01L27/146 H04N25/77 H04N25/75 H04N25/63

代理机构：

北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290

代理人：

梁兴龙;曹正建

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-10-22	授权	授权

共 50 条

[1]

成像装置和校准方法 [P].

古坂拓朗 ;

河津直树 ;

冈巧 .

中国专利 :CN113167656A ,2021-07-23

[2]

成像装置校准方法和成像装置校准仪表 [P].

J·M·迪卡洛 .

中国专利 :CN1943250A ,2007-04-04

[3]

成像元件、控制方法和成像装置 [P].

若林准人 .

中国专利 :CN103782587B ,2014-05-07

[4]

成像装置校准系统和方法 [P].

S·莫亚莱姆 ;

E·谢勒夫 ;

S·哈鲁什 ;

M·纳曼－齐夫 .

中国专利 :CN102203680A ,2011-09-28

[5]

磁共振系统校准方法、成像方法、校准装置及成像装置 [P].

黄文慧 ;

童立 .

中国专利 :CN115598572A ,2023-01-13

[6]

用于校准成像装置的方法和设备 [P].

卡林·米特科夫·阿塔纳索夫 ;

塞尔久·R·戈马 ;

维卡斯·拉马钱德兰 .

中国专利 :CN103649997B ,2014-03-19

[7]

成像装置和方法 [P].

刘坤 ;

郭先清 ;

傅璟军 .

中国专利 :CN108024035A ,2018-05-11

[8]

校准装置、成像装置、校准方法及图像重建方法 [P].

赵自然 ;

游燕 ;

金颖康 ;

张士新 ;

奉华成 .

中国专利 :CN117687100A ,2024-03-12

[9]

固态成像元件和固态成像装置 [P].

苏拉娅·希里尼 ;

上野贵久 ;

半泽克彦 .

中国专利 :CN111149351B ,2020-05-12

[10]

X射线成像装置和用于校准X射线成像装置的设备和方法 [P].

H-I·马克 ;

C·库尔策 .

中国专利 :CN101460098A ,2009-06-17

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