一种半导体新材料生产废水检测装置及其检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410944579.0

申请日：

2024-07-15

公开(公告)号：

CN118962044A

公开(公告)日：

2024-11-15

发明(设计)人：

袁超周德军刘水发刘鹏周强

申请人：

浙江精瓷半导体有限责任公司

申请人地址：

314499 浙江省嘉兴市海宁市海宁经济开发区杭平路12号1号楼1楼、2楼(自主申报)

IPC主分类号：

G01N33/18

IPC分类号：

G01N1/28 G01N1/34 B01D36/04

代理机构：

嘉兴启帆专利代理事务所(普通合伙) 33253

代理人：

汤磊

法律状态：

公开

国省代码：

河北省衡水市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-11-15	公开	公开
2024-12-03	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 33/18申请日:20240715

共 50 条

[1]

一种半导体新材料生产废水检测装置 [P].

管海琴 .

中国专利 :CN220305286U ,2024-01-05

[2]

一种半导体新材料生产废水过滤装置 [P].

汪国荣 .

中国专利 :CN220300502U ,2024-01-05

[3]

一种半导体新材料切割装置 [P].

丁捷 ;

杨孝省 .

中国专利 :CN213440474U ,2021-06-15

[4]

一种半导体传感器基座检测装置及检测方法 [P].

王欣 ;

易午阳 ;

熊明明 .

中国专利 :CN118999465B ,2025-09-19

[5]

一种半导体传感器基座检测装置及检测方法 [P].

王欣 ;

易午阳 ;

熊明明 .

中国专利 :CN118999465A ,2024-11-22

[6]

一种半导体晶片厚度检测装置及其检测方法 [P].

董福国 ;

张强 .

中国专利 :CN114459410A ,2022-05-10

[7]

一种半导体检测装置 [P].

朴佳奇 .

中国专利 :CN221238990U ,2024-06-28

[8]

一种节能半导体新材料砷化镓生产废水处理工艺 [P].

张亚明 ;

刘星 ;

黄文凤 ;

杨汉军 ;

杨红梅 ;

章慧 ;

雷成 ;

肖德龙 .

中国专利 :CN109867415B ,2019-06-11

[9]

一种新材料硅胶圈检测装置及其检测方法 [P].

徐华勇 ;

赵波 ;

刘娇华 .

中国专利 :CN120948176A ,2025-11-14

[10]

一种环保新材料纸浆检测装置及其检测方法 [P].

全俊成 .

中国专利 :CN120195174A ,2025-06-24

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