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屏蔽栅MOSFET器件及形成方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202411204854.1
申请日
:
2024-08-29
公开(公告)号
:
CN119092412A
公开(公告)日
:
2024-12-06
发明(设计)人
:
颜树范
申请人
:
上海华虹宏力半导体制造有限公司
申请人地址
:
201203 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区祖冲之路1399号
IPC主分类号
:
H01L21/336
IPC分类号
:
H01L29/78
H01L29/423
H01L29/06
代理机构
:
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237
代理人
:
赵素香
法律状态
:
公开
国省代码
:
上海市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-12-06
公开
公开
2024-12-24
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):H01L 21/336申请日:20240829
共 50 条
[1]
屏蔽栅MOSFET的形成方法
[P].
颜树范
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海华虹宏力半导体制造有限公司
上海华虹宏力半导体制造有限公司
颜树范
.
中国专利
:CN117912954A
,2024-04-19
[2]
MOSFET器件及形成方法
[P].
颜树范
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海华虹宏力半导体制造有限公司
上海华虹宏力半导体制造有限公司
颜树范
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
姚亮
;
吴长明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海华虹宏力半导体制造有限公司
上海华虹宏力半导体制造有限公司
吴长明
;
刘须电
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海华虹宏力半导体制造有限公司
上海华虹宏力半导体制造有限公司
刘须电
;
邵向荣
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海华虹宏力半导体制造有限公司
上海华虹宏力半导体制造有限公司
邵向荣
;
朱熹
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海华虹宏力半导体制造有限公司
上海华虹宏力半导体制造有限公司
朱熹
.
中国专利
:CN118448441A
,2024-08-06
[3]
屏蔽栅MOSFET及形成方法
[P].
颜树范
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海华虹宏力半导体制造有限公司
上海华虹宏力半导体制造有限公司
颜树范
.
中国专利
:CN117913144A
,2024-04-19
[4]
屏蔽栅MOSFET的形成方法
[P].
颜树范
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海华虹宏力半导体制造有限公司
上海华虹宏力半导体制造有限公司
颜树范
.
中国专利
:CN117912953A
,2024-04-19
[5]
屏蔽栅器件及其形成方法
[P].
颜树范
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海华虹宏力半导体制造有限公司
上海华虹宏力半导体制造有限公司
颜树范
.
中国专利
:CN117976527A
,2024-05-03
[6]
屏蔽栅器件的形成方法
[P].
李秀然
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海华虹宏力半导体制造有限公司
上海华虹宏力半导体制造有限公司
李秀然
;
惠亚妮
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海华虹宏力半导体制造有限公司
上海华虹宏力半导体制造有限公司
惠亚妮
;
汪渊源
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海华虹宏力半导体制造有限公司
上海华虹宏力半导体制造有限公司
汪渊源
;
闫坦
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海华虹宏力半导体制造有限公司
上海华虹宏力半导体制造有限公司
闫坦
.
中国专利
:CN120692869A
,2025-09-23
[7]
屏蔽栅-深沟槽MOSFET的屏蔽栅氧化层及其形成方法
[P].
陈正嵘
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈正嵘
.
中国专利
:CN105702736B
,2016-06-22
[8]
屏蔽栅MOSFET的形成方法
[P].
颜树范
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海华虹宏力半导体制造有限公司
上海华虹宏力半导体制造有限公司
颜树范
.
中国专利
:CN117912955A
,2024-04-19
[9]
屏蔽栅MOSFET的形成方法
[P].
颜树范
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海华虹宏力半导体制造有限公司
上海华虹宏力半导体制造有限公司
颜树范
.
中国专利
:CN118231237A
,2024-06-21
[10]
屏蔽栅MOSFET的形成方法
[P].
颜树范
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海华虹宏力半导体制造有限公司
上海华虹宏力半导体制造有限公司
颜树范
.
中国专利
:CN117912952A
,2024-04-19
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