屏蔽栅MOSFET的形成方法

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专利类型
发明
申请号
CN202410205216.5
申请日
2024-02-23
公开(公告)号
CN117912953A
公开(公告)日
2024-04-19
发明(设计)人
颜树范
申请人
上海华虹宏力半导体制造有限公司
申请人地址
201203 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区祖冲之路1399号
IPC主分类号
H01L21/336
IPC分类号
H01L29/06 H01L29/423
代理机构
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237
代理人
郑星
法律状态
公开
国省代码
上海市
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共 50 条
[1]
屏蔽栅MOSFET的形成方法 [P]. 
颜树范 .
中国专利 :CN118231237A ,2024-06-21
[2]
屏蔽栅MOSFET的形成方法 [P]. 
颜树范 .
中国专利 :CN117912955A ,2024-04-19
[3]
屏蔽栅MOSFET的形成方法 [P]. 
颜树范 .
中国专利 :CN117912954A ,2024-04-19
[4]
屏蔽栅MOSFET的形成方法 [P]. 
颜树范 .
中国专利 :CN117912952A ,2024-04-19
[5]
屏蔽栅MOSFET器件及形成方法 [P]. 
颜树范 .
中国专利 :CN119092412A ,2024-12-06
[6]
屏蔽栅MOSFET及形成方法 [P]. 
颜树范 .
中国专利 :CN117913144A ,2024-04-19
[7]
屏蔽栅-深沟槽MOSFET的屏蔽栅氧化层及其形成方法 [P]. 
陈正嵘 .
中国专利 :CN105702736B ,2016-06-22
[8]
屏蔽栅沟槽MOSFET的制造方法 [P]. 
范让萱 ;
缪进征 .
中国专利 :CN106057674B ,2016-10-26
[9]
屏蔽栅MOSFET的工艺方法 [P]. 
颜树范 .
中国专利 :CN118571761A ,2024-08-30
[10]
屏蔽栅器件的形成方法 [P]. 
李秀然 ;
惠亚妮 ;
汪渊源 ;
闫坦 .
中国专利 :CN120692869A ,2025-09-23