测定装置、测定方法以及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202310099506.1

申请日：

2023-02-08

公开(公告)号：

CN116804703B

公开(公告)日：

2024-11-19

发明(设计)人：

富永由骑西本有里佳

申请人：

本田技研工业株式会社

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

G01R31/367

IPC分类号：

G01R31/389 G01R31/3842

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司 11021

代理人：

祝博

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-11-19	授权	授权

共 50 条

[1]

测定装置、测定方法以及存储介质 [P].

富田宽基 .

中国专利 :CN114271811A ,2022-04-05

[2]

测定装置、测定系统、测定方法和存储介质 [P].

川畑悠 .

日本专利 :CN117768859A ,2024-03-26

[3]

测定装置、测定方法以及记录介质 [P].

中野梓 ;

富泽亮太 ;

中岛健 ;

岸部祥典 .

日本专利 :CN119496967A ,2025-02-21

[4]

测定装置、测定方法以及记录介质 [P].

小林宏企 ;

滝口真也 .

中国专利 :CN115372693A ,2022-11-22

[5]

测定装置、测定方法以及记录介质 [P].

奥田忠义 .

日本专利 :CN115244620B ,2025-04-08

[6]

测定装置、测定方法、测定程序以及记录介质 [P].

山内隆典 ;

后藤广树 ;

宫城由香里 ;

小西良明 ;

西冈隼也 .

日本专利 :CN118525194A ,2024-08-20

[7]

测定装置以及测定装置的测定方法 [P].

大野祥希 .

日本专利 :CN119986675A ,2025-05-13

[8]

测定装置以及测定方法 [P].

松下友纪 .

中国专利 :CN113551591A ,2021-10-26

[9]

测定装置以及测定方法 [P].

藤原崇雄 ;

堀井和由 ;

古佐小达也 ;

能勢智之 ;

友田小百合 .

中国专利 :CN107561298A ,2018-01-09

[10]

测定装置以及测定方法 [P].

高须良三 .

中国专利 :CN110573856B ,2019-12-13

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