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样品池及荧光X射线分析方法

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202480001941.9
申请日：
2024-03-05
公开(公告)号：
CN119072626A
公开(公告)日：
2024-12-03
发明(设计)人：
高原晃里 庄司孝
申请人：
株式会社理学
申请人地址：
日本国东京都昭岛市松原町3丁目9番12号
IPC主分类号：
G01N23/223
IPC分类号：
G01N1/28 G01N23/2204
代理机构：
北京瑞盟知识产权代理有限公司 11300
代理人：
刘昕;孟祥海
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2024-12-20 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01N 23/223申请日:20240305
2024-12-03 公开 公开
共 50 条
[1]
样品袋池和荧光X射线分析方法 [P]. 
高原晃里 ;
庄司孝 .
日本专利 :CN119768681A ,2025-04-04
[2]
荧光X射线分析方法及荧光X射线分析装置 [P]. 
谷美幸 ;
岩本洋 ;
久角隆雄 ;
岩田进裕 ;
坂口悦美 .
中国专利 :CN1947003A ,2007-04-11
[3]
荧光X射线分析方法及荧光X射线分析装置 [P]. 
寺下卫作 .
中国专利 :CN105637352A ,2016-06-01
[4]
荧光X射线分析仪、荧光X射线分析方法及分析程序 [P]. 
臼井康博 .
中国专利 :CN1837796A ,2006-09-27
[5]
荧光X射线分析方法和荧光X射线分析装置 [P]. 
泉山优树 .
日本专利 :CN119064395A ,2024-12-03
[6]
荧光X射线分析装置以及荧光X射线分析方法 [P]. 
斋藤佑多 .
中国专利 :CN112105919A ,2020-12-18
[7]
荧光X射线分析装置和荧光X射线分析方法 [P]. 
高原稔幸 .
中国专利 :CN105628724A ,2016-06-01
[8]
荧光X射线分析装置和荧光X射线分析方法 [P]. 
佐久田昌博 .
中国专利 :CN103308539B ,2013-09-18
[9]
荧光X射线分析方法以及荧光X射线分析装置 [P]. 
片冈由行 ;
川久航介 .
中国专利 :CN110312928B ,2019-10-08
[10]
荧光X射线分析方法和荧光X射线分析装置 [P]. 
铃木桂次郎 ;
八岛志保 ;
克里恩卡莫尔·坦特拉卡恩 .
日本专利 :CN119096139A ,2024-12-06
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