测试装置以及测试方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202010278245.6
申请日
2020-04-10
公开(公告)号
CN112834895B
公开(公告)日
2024-10-22
发明(设计)人
陈彦中 杨财铭 喻柏莘
申请人
创意电子股份有限公司 台湾积体电路制造股份有限公司
申请人地址
中国台湾新竹科学园区力行六路10号
IPC主分类号
G01R31/28
IPC分类号
H04B17/00
代理机构
北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006
代理人
徐金国
法律状态
专利权期限的补偿
国省代码
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共 50 条
[1]
测试装置以及测试方法 [P]. 
陈彦中 ;
杨财铭 ;
喻柏莘 .
中国专利 :CN112834895A ,2021-05-25
[2]
测试装置以及测试方法 [P]. 
饭岛匡史 ;
木村英明 .
日本专利 :CN120265998A ,2025-07-04
[3]
测试装置以及测试方法 [P]. 
大空聡 ;
中川哲郎 ;
角田慎 ;
高岩伸贤 .
中国专利 :CN100559204C ,2006-08-16
[4]
测试装置以及测试方法 [P]. 
张藏文 ;
朱鹏 .
中国专利 :CN107863302A ,2018-03-30
[5]
测试装置、以及测试方法 [P]. 
大岛直哉 .
日本专利 :CN119654554A ,2025-03-18
[6]
测试装置以及测试方法 [P]. 
丘向忠 ;
梁金 .
中国专利 :CN101520372A ,2009-09-02
[7]
测试装置以及测试方法 [P]. 
何羽轩 .
中国专利 :CN120446702A ,2025-08-08
[8]
测试装置以及测试方法 [P]. 
市吉清司 .
中国专利 :CN101231325B ,2008-07-30
[9]
测试装置以及测试方法 [P]. 
滝泽圭佑 ;
桥本礼一 .
中国专利 :CN104955074B ,2015-09-30
[10]
测试装置以及测试方法 [P]. 
市吉清司 .
中国专利 :CN100432689C ,2006-04-05