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测试装置以及测试方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202010278245.6
申请日
:
2020-04-10
公开(公告)号
:
CN112834895B
公开(公告)日
:
2024-10-22
发明(设计)人
:
陈彦中
杨财铭
喻柏莘
申请人
:
创意电子股份有限公司
台湾积体电路制造股份有限公司
申请人地址
:
中国台湾新竹科学园区力行六路10号
IPC主分类号
:
G01R31/28
IPC分类号
:
H04B17/00
代理机构
:
北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006
代理人
:
徐金国
法律状态
:
专利权期限的补偿
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-12-20
专利权期限的补偿
专利权期限补偿IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20200410授权公告日:20241022原专利权期满终止日:20400410现专利权期满终止日:20400907
2024-10-22
授权
授权
共 50 条
[1]
测试装置以及测试方法
[P].
陈彦中
论文数:
0
引用数:
0
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0
陈彦中
;
杨财铭
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杨财铭
;
喻柏莘
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喻柏莘
.
中国专利
:CN112834895A
,2021-05-25
[2]
测试装置以及测试方法
[P].
饭岛匡史
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0
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机构:
日置电机株式会社
日置电机株式会社
饭岛匡史
;
木村英明
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机构:
日置电机株式会社
日置电机株式会社
木村英明
.
日本专利
:CN120265998A
,2025-07-04
[3]
测试装置以及测试方法
[P].
大空聡
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大空聡
;
中川哲郎
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中川哲郎
;
角田慎
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角田慎
;
高岩伸贤
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高岩伸贤
.
中国专利
:CN100559204C
,2006-08-16
[4]
测试装置以及测试方法
[P].
张藏文
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张藏文
;
朱鹏
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朱鹏
.
中国专利
:CN107863302A
,2018-03-30
[5]
测试装置、以及测试方法
[P].
大岛直哉
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机构:
日挥株式会社
日挥株式会社
大岛直哉
.
日本专利
:CN119654554A
,2025-03-18
[6]
测试装置以及测试方法
[P].
丘向忠
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丘向忠
;
梁金
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梁金
.
中国专利
:CN101520372A
,2009-09-02
[7]
测试装置以及测试方法
[P].
何羽轩
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机构:
新唐科技股份有限公司
新唐科技股份有限公司
何羽轩
.
中国专利
:CN120446702A
,2025-08-08
[8]
测试装置以及测试方法
[P].
市吉清司
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市吉清司
.
中国专利
:CN101231325B
,2008-07-30
[9]
测试装置以及测试方法
[P].
滝泽圭佑
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滝泽圭佑
;
桥本礼一
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桥本礼一
.
中国专利
:CN104955074B
,2015-09-30
[10]
测试装置以及测试方法
[P].
市吉清司
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市吉清司
.
中国专利
:CN100432689C
,2006-04-05
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