活化剂、利用其的薄膜形成方法、由此制造的半导体基板及半导体元件

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202380027566.0
申请日
2023-03-17
公开(公告)号
CN118974313A
公开(公告)日
2024-11-15
发明(设计)人
李承铉 郑在善 延昌峰 金种文
申请人
秀博瑞殷株式公社
申请人地址
韩国京畿道
IPC主分类号
C23C16/455
IPC分类号
C23C16/40 H01L21/02
代理机构
成都超凡明远知识产权代理有限公司 51258
代理人
宋东颖
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
活化剂、使用其制造的半导体基板及半导体器件 [P]. 
郑在善 ;
李承铉 ;
延昌峰 .
韩国专利 :CN119948202A ,2025-05-06
[2]
膜质改善剂、利用其的薄膜形成方法、由此制造的半导体基板及半导体器件 [P]. 
延昌峰 ;
郑在善 ;
李承铉 .
韩国专利 :CN118234890A ,2024-06-21
[3]
遮蔽化合物、利用其的薄膜形成方法、由此制造的半导体基板以及半导体器件 [P]. 
延昌峰 ;
郑在善 .
韩国专利 :CN120077464A ,2025-05-30
[4]
介电膜活化剂、使用其制造的半导体基板以及半导体器件 [P]. 
郑在善 ;
李承铉 ;
金种文 .
韩国专利 :CN119998490A ,2025-05-13
[5]
真空薄膜改性剂、包含其的薄膜改性组合物、利用其的薄膜形成方法、由该方法制造的半导体基板以及半导体元件 [P]. 
延昌峰 ;
郑在善 ;
曹德贤 ;
河昭银 ;
南知贤 .
韩国专利 :CN118872027A ,2024-10-29
[6]
半导体基板的制造方法、半导体元件的制造方法、半导体基板以及半导体元件 [P]. 
佐藤宪 ;
鹿内洋志 ;
后藤博一 ;
篠宫胜 ;
土屋庆太郎 ;
萩本和德 .
中国专利 :CN106165073B ,2016-11-23
[7]
膜质改良剂,利用其的薄膜形成方法以及由此制造的半导体基板 [P]. 
郑在善 ;
延昌峰 ;
李承铉 ;
金种文 .
韩国专利 :CN117941031A ,2024-04-26
[8]
薄膜遮蔽剂、利用其的薄膜形成方法、由该方法制造的半导体基板以及半导体器件 [P]. 
李承铉 ;
郑在善 ;
延昌峰 ;
金德铉 .
韩国专利 :CN118922582A ,2024-11-08
[9]
半导体元件的制造方法及半导体基板 [P]. 
荻原光彦 .
中国专利 :CN112740359B ,2021-04-30
[10]
半导体元件的制造方法及半导体基板 [P]. 
荻原光彦 .
日本专利 :CN113690184B ,2024-11-12