半导体制程设备及半导体制程设备的保养方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202411081781.1
申请日
2024-08-08
公开(公告)号
CN118610131B
公开(公告)日
2024-11-12
发明(设计)人
尚思飞
申请人
武汉新芯集成电路股份有限公司
申请人地址
430205 湖北省武汉市东湖开发区高新四路18号
IPC主分类号
H01L21/67
IPC分类号
G01C9/02
代理机构
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237
代理人
宋艳
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
半导体制程设备及半导体制程设备的保养方法 [P]. 
尚思飞 .
中国专利 :CN118610131A ,2024-09-06
[2]
半导体制程设备 [P]. 
张佑语 ;
黄俊尧 .
中国专利 :CN208938918U ,2019-06-04
[3]
半导体制程及设备 [P]. 
林俊安 .
中国专利 :CN118645439A ,2024-09-13
[4]
半导体制程机台及其半导体制程 [P]. 
林武郎 ;
郑煌玉 ;
王陈右 ;
陈世敏 ;
范釗傑 ;
高诚志 ;
刘又瑋 .
中国专利 :CN104253065A ,2014-12-31
[5]
半导体制程设备的清洁方法 [P]. 
张广诚 ;
邱正杰 ;
林继辉 ;
陈传益 ;
黄信正 ;
谢朝凯 ;
赵伟胜 .
中国专利 :CN1635609A ,2005-07-06
[6]
半导体设备以及半导体制程方法 [P]. 
张永昌 ;
蔡孟吟 ;
刘东雄 ;
叶良佑 ;
李隽毅 ;
黄国希 .
中国专利 :CN110707021A ,2020-01-17
[7]
半导体制程 [P]. 
王文杰 ;
陈逸男 ;
刘献文 .
中国专利 :CN102810505A ,2012-12-05
[8]
半导体制程 [P]. 
李秋德 .
中国专利 :CN101667540A ,2010-03-10
[9]
半导体制程 [P]. 
苏煜中 ;
罗冠昕 ;
郑雅如 ;
张庆裕 ;
林进祥 .
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[10]
半导体制程检测系统及半导体制程检测方法 [P]. 
黎焕诚 ;
陈咏裕 .
中国专利 :CN114068347A ,2022-02-18