一种利用闪存弱页及其分布类型快速测试闪存的方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411562189.3

申请日：

2024-11-05

公开(公告)号：

CN119068968A

公开(公告)日：

2024-12-03

发明(设计)人：

赵周星张杰吴国骏李四林

申请人：

湖北长江万润半导体技术有限公司

申请人地址：

430081 湖北省武汉市青山区建设二路1号武钢数字大厦9F

IPC主分类号：

G11C29/56

IPC分类号：

代理机构：

湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102

代理人：

李丹;胡琳萍

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-01-17	授权	授权
2024-12-20	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G11C 29/56申请日:20241105
2024-12-03	公开	公开

共 50 条

[1]

一种利用闪存弱页及其分布类型快速测试闪存的方法 [P].

赵周星 ;

张杰 ;

吴国骏 ;

李四林 .

中国专利 :CN119068968B ,2025-01-17

[2]

一种基于闪存弱页的闪存芯片快速测试方法 [P].

赵周星 ;

张杰 ;

吴国骏 ;

李四林 .

中国专利 :CN119068969A ,2024-12-03

[3]

一种基于闪存弱页的闪存芯片快速测试方法 [P].

赵周星 ;

张杰 ;

吴国骏 ;

李四林 .

中国专利 :CN119068969B ,2025-01-17

[4]

一种闪存芯片的测试方法和闪存芯片 [P].

苏志强 ;

舒清明 .

中国专利 :CN102592679A ,2012-07-18

[5]

一种闪存芯片的测试方法 [P].

王玉伟 .

中国专利 :CN112863587A ,2021-05-28

[6]

一种闪存芯片的测试方法 [P].

王玉伟 .

中国专利 :CN112863587B ,2024-08-23

[7]

一种快速收集闪存阈值电压分布的方法 [P].

席与凌 ;

李强 .

中国专利 :CN107886994A ,2018-04-06

[8]

一种扫描闪存盘的闪存芯片的方法 [P].

熊国平 .

中国专利 :CN1728284B ,2006-02-01

[9]

一种闪存芯片的测试平台 [P].

王玉伟 .

中国专利 :CN214539895U ,2021-10-29

[10]

一种闪存芯片的测试平台 [P].

王玉伟 .

中国专利 :CN112881893A ,2021-06-01

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