共 50 条
[1]
[2]
[3]
[4]
[5]
[6]
[7]
[8]
[9]
[10]
一种基于闪存弱页的闪存芯片快速测试方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202411562190.6
申请日：
2024-11-05
公开(公告)号：
CN119068969A
公开(公告)日：
2024-12-03
发明(设计)人：
赵周星
张杰
吴国骏
李四林
申请人：
湖北长江万润半导体技术有限公司
申请人地址：
430081 湖北省武汉市青山区建设二路1号武钢数字大厦9F
IPC主分类号：
G11C29/56
IPC分类号：
代理机构：
湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102
代理人：
李丹;胡琳萍
法律状态：
授权
国省代码：
引用
下载
收藏
法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2025-01-17 | 授权 | 授权 |
| 2024-12-20 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效IPC(主分类):G11C 29/56申请日:20241105 |
| 2024-12-03 | 公开 | 公开 |