性能测试方法、装置、测试设备和可读存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410975398.4

申请日：

2024-07-19

公开(公告)号：

CN118984292A

公开(公告)日：

2024-11-19

发明(设计)人：

苏立桐尹远阳

申请人：

中国电信股份有限公司技术创新中心中国电信股份有限公司

申请人地址：

102209 北京市昌平区北七家镇未来科技城南区中国电信北京信息科技创新园11层1118室、1116室

IPC主分类号：

H04L43/16

IPC分类号：

H04L43/08 H04L49/351

代理机构：

华进联合专利商标代理有限公司 44224

代理人：

胡雪

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-12-06	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):H04L 43/16申请日:20240719
2024-11-19	公开	公开

共 50 条

[1]

测试方法、装置、测试设备和可读存储介质 [P].

赵旸 ;

左永强 ;

朴顺福 ;

刘旭峰 ;

史江通 ;

陈波 .

中国专利 :CN121093492A ,2025-12-09

[2]

失效测试方法、测试装置、测试设备和可读存储介质 [P].

赵哲 ;

吴耆贤 .

中国专利 :CN115458025A ,2022-12-09

[3]

失效测试方法、测试装置、测试设备和可读存储介质 [P].

赵哲 ;

吴耆贤 .

中国专利 :CN115458025B ,2025-10-14

[4]

显示性能测试方法、装置、测试设备及存储介质 [P].

赵代碧 ;

雒晓莉 ;

石峰 ;

张志超 ;

王瑞 ;

何海波 ;

黄浩 .

中国专利 :CN113838397A ,2021-12-24

[5]

显示性能测试方法、装置、测试设备及存储介质 [P].

赵代碧 ;

雒晓莉 ;

石峰 ;

张志超 ;

王瑞 ;

何海波 ;

黄浩 .

中国专利 :CN113838397B ,2024-05-28

[6]

性能测试方法、装置、系统、测试设备及存储介质 [P].

闫霄 ;

杨震 ;

张红学 .

中国专利 :CN113783754A ,2021-12-10

[7]

设备性能测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

赵凡 .

中国专利 :CN114328041A ,2022-04-12

[8]

通信性能测试方法、设备及存储介质 [P].

王芸红 .

中国专利 :CN120560921B ,2025-10-10

[9]

通信性能测试方法、设备及存储介质 [P].

王芸红 .

中国专利 :CN120560921A ,2025-08-29

[10]

性能测试方法、装置、设备、存储介质和程序产品 [P].

张欢 ;

王卫钢 ;

郭庆 ;

丁磊 ;

王学智 .

中国专利 :CN116614409B ,2025-12-02

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