光测定装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202380035265.2

申请日：

2023-05-23

公开(公告)号：

CN119072614A

公开(公告)日：

2024-12-03

发明(设计)人：

横山拓马长岛寿一

申请人：

优志旺电机株式会社

申请人地址：

日本

IPC主分类号：

G01J3/08

IPC分类号：

G01N21/59

代理机构：

永新专利商标代理有限公司 72002

代理人：

徐殿军

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-12-20	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01J 3/08申请日:20230523
2024-12-03	公开	公开

共 50 条

[1]

光测定装置 [P].

山内隆典 ;

小竹论季 ;

后藤广树 ;

今城胜治 ;

园直树 .

日本专利 :CN119998624A ,2025-05-13

[2]

光距离测定装置 [P].

山内隆典 ;

后藤广树 ;

吉田刚 ;

斧原圣史 ;

铃木巨生 .

中国专利 :CN113677951A ,2021-11-19

[3]

光干涉测定装置和光干涉测定方法 [P].

长滨龙也 ;

本桥研 ;

H·海特杰马 ;

J·奎达克尔斯 .

中国专利 :CN107525463A ,2017-12-29

[4]

旋光测定装置以及旋光测定方法 [P].

梶冈博 ;

鸟取裕作 .

中国专利 :CN102483376A ,2012-05-30

[5]

光测定装置 [P].

越石直孝 ;

大河内健吾 .

中国专利 :CN214041120U ,2021-08-24

[6]

光测定装置 [P].

牧达幸 .

中国专利 :CN103095368A ,2013-05-08

[7]

光测定装置 [P].

越石直孝 ;

大河内健吾 .

中国专利 :CN114527077A ,2022-05-24

[8]

光测定装置 [P].

山内隆典 ;

西冈隼也 ;

宫城由香里 ;

后藤广树 ;

小西良明 .

日本专利 :CN117769645A ,2024-03-26

[9]

光测定装置 [P].

河野理 .

中国专利 :CN102281821A ,2011-12-14

[10]

散射光测定装置 [P].

浮田润一 ;

松村尊 .

中国专利 :CN101278182A ,2008-10-01

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