光测定装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202280100768.9

申请日：

2022-10-07

公开(公告)号：

CN119998624A

公开(公告)日：

2025-05-13

发明(设计)人：

山内隆典小竹论季后藤广树今城胜治园直树

申请人：

三菱电机株式会社

申请人地址：

日本东京

IPC主分类号：

G01C3/06

IPC分类号：

G01S17/34 G01N21/17 G01B9/02004 G01B11/00

代理机构：

北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112

代理人：

何立波;张天舒

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-05-30	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01C 3/06申请日:20221007
2025-05-13	公开	公开

共 50 条

[1]

光测定装置 [P].

横山拓马 ;

长岛寿一 .

日本专利 :CN119072614A ,2024-12-03

[2]

光测定装置 [P].

山内隆典 ;

西冈隼也 ;

宫城由香里 ;

后藤广树 ;

小西良明 .

日本专利 :CN117769645A ,2024-03-26

[3]

光距离测定装置 [P].

山内隆典 ;

后藤广树 ;

吉田刚 ;

斧原圣史 ;

铃木巨生 .

中国专利 :CN113677951A ,2021-11-19

[4]

光测定装置、取得方法、取得程序及记录介质 [P].

小竹论季 ;

山内隆典 ;

后藤广树 ;

今城胜治 ;

园直树 .

日本专利 :CN120153222A ,2025-06-13

[5]

光干涉测定装置和光干涉测定方法 [P].

长滨龙也 ;

本桥研 ;

H·海特杰马 ;

J·奎达克尔斯 .

中国专利 :CN107525463A ,2017-12-29

[6]

光干涉测定装置及光干涉测定方法 [P].

椴山誉 ;

佐佐木芳彰 ;

吉峯功 ;

大谷知行 ;

汤浅哲也 .

中国专利 :CN113853507A ,2021-12-28

[7]

光干涉测定装置及光干涉测定方法 [P].

椴山誉 ;

佐佐木芳彰 ;

吉峯功 ;

大谷知行 ;

汤浅哲也 .

日本专利 :CN113853507B ,2024-08-16

[8]

光干涉测定装置及光干涉测定方法 [P].

椴山誉 ;

佐佐木芳彰 ;

吉峯功 ;

大谷知行 ;

汤浅哲也 .

日本专利 :CN113892024B ,2025-08-15

[9]

旋光测定装置以及旋光测定方法 [P].

梶冈博 ;

鸟取裕作 .

中国专利 :CN102483376A ,2012-05-30

[10]

光干涉测定装置及光干涉测定方法 [P].

椴山誉 ;

佐佐木芳彰 ;

吉峯功 ;

大谷知行 ;

汤浅哲也 .

中国专利 :CN113892024A ,2022-01-04

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