光测定装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202180100807.0

申请日：

2021-08-30

公开(公告)号：

CN117769645A

公开(公告)日：

2024-03-26

发明(设计)人：

山内隆典西冈隼也宫城由香里后藤广树小西良明

申请人：

三菱电机株式会社

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

G01N21/17

IPC分类号：

G01B11/00

代理机构：

北京三友知识产权代理有限公司 11127

代理人：

孙明浩

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-03-26	公开	公开
2024-04-12	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/17申请日:20210830

共 50 条

[1]

光测定装置 [P].

山内隆典 ;

小竹论季 ;

后藤广树 ;

今城胜治 ;

园直树 .

日本专利 :CN119998624A ,2025-05-13

[2]

光距离测定装置 [P].

山内隆典 ;

后藤广树 ;

吉田刚 ;

斧原圣史 ;

铃木巨生 .

中国专利 :CN113677951A ,2021-11-19

[3]

光特性测定装置 [P].

望月学 ;

藤森昭一 .

中国专利 :CN105074399A ,2015-11-18

[4]

光干涉测定装置和光干涉测定方法 [P].

长滨龙也 ;

本桥研 ;

H·海特杰马 ;

J·奎达克尔斯 .

中国专利 :CN107525463A ,2017-12-29

[5]

光干涉测定装置及光干涉测定方法 [P].

椴山誉 ;

佐佐木芳彰 ;

吉峯功 ;

大谷知行 ;

汤浅哲也 .

中国专利 :CN113853507A ,2021-12-28

[6]

光干涉测定装置及光干涉测定方法 [P].

椴山誉 ;

佐佐木芳彰 ;

吉峯功 ;

大谷知行 ;

汤浅哲也 .

日本专利 :CN113853507B ,2024-08-16

[7]

光干涉测定装置及光干涉测定方法 [P].

椴山誉 ;

佐佐木芳彰 ;

吉峯功 ;

大谷知行 ;

汤浅哲也 .

日本专利 :CN113892024B ,2025-08-15

[8]

光干涉测定装置及光干涉测定方法 [P].

椴山誉 ;

佐佐木芳彰 ;

吉峯功 ;

大谷知行 ;

汤浅哲也 .

中国专利 :CN113892024A ,2022-01-04

[9]

光测定装置 [P].

越石直孝 ;

大河内健吾 .

中国专利 :CN214041120U ,2021-08-24

[10]

光测定装置 [P].

横山拓马 ;

长岛寿一 .

日本专利 :CN119072614A ,2024-12-03

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