一种通过磁控溅射在Si/SiO<sub>2</sub>衬底上制备HfO<sub>2</sub>薄膜优化Bi<sub>2</sub>O<sub>2</sub>Se薄膜生长的方法及Bi<sub>2</sub>O<sub>2</sub>Se薄膜

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202410913956.4
申请日
2024-07-09
公开(公告)号
CN118880257A
公开(公告)日
2024-11-01
发明(设计)人
唐家轩 徐锋 徐桂舟 陈喜 陈雨莹
申请人
金陵科技学院
申请人地址
211169 江苏省南京市江宁区弘景大道99号
IPC主分类号
C23C14/35
IPC分类号
C23C14/06 C23C14/08
代理机构
南京钟山专利代理有限公司 32252
代理人
刘佳慧
法律状态
公开
国省代码
江苏省 南京市
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共 50 条
[1]
一种全磁控溅射制备晶圆级Bi<sub>2</sub>O<sub>2</sub>Se/HfO<sub>2</sub>薄膜晶体管的方法 [P]. 
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[2]
一种磁控溅射制备大面积Bi<sub>2</sub>O<sub>2</sub>Se半导体薄膜的方法 [P]. 
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[3]
一种硒化铋氧化转化制备Bi<sub>3</sub>O<sub>2.5</sub>Se<sub>2</sub>的方法及所得Bi<sub>3</sub>O<sub>2.5</sub>Se<sub>2</sub>半导体材料的用途 [P]. 
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[4]
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毕津顺 ;
肖文君 ;
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郝乐 ;
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[5]
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卢寅梅 ;
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[6]
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[7]
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陈旭 ;
孟冬冬 ;
葛坤鹏 ;
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中国专利 :CN117403207B ,2025-10-31
[8]
一种Si:Ga<sub>2</sub>O<sub>3</sub>薄膜及其制备方法 [P]. 
陈旭 ;
孟冬冬 ;
葛坤鹏 ;
陈政委 .
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[9]
一种高性能Bi<sub>2</sub>Se<sub>3</sub>热电薄膜的制备方法 [P]. 
李志亮 ;
高志 ;
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[10]
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李阳 ;
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