一种基于芯粒系统内FPGA的DDR3自测试电路及其方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411542299.3

申请日：

2024-10-31

公开(公告)号：

CN119296625A

公开(公告)日：

2025-01-10

发明(设计)人：

葛云侠宋国栋陈龙寿开元

申请人：

中国电子科技集团公司第五十八研究所

申请人地址：

214000 江苏省无锡市滨湖区惠河路5号

IPC主分类号：

G11C29/12

IPC分类号：

代理机构：

无锡派尔特知识产权代理事务所(普通合伙) 32340

代理人：

杨立秋

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-01-10	公开	公开
2025-01-28	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G11C 29/12申请日:20241031

共 50 条

[1]

一种基于FPGA的DDR3缓存电路 [P].

左国星 ;

胡冬粤 ;

涂佳隆 ;

周杰 ;

尹文姝 ;

余常恒 ;

陈博文 .

中国专利 :CN120510888A ,2025-08-19

[2]

锁存器的自测试电路及其自测试方法 [P].

李颖 .

中国专利 :CN114460447A ,2022-05-10

[3]

一种基于FPGA的DDR3分组读写方法 [P].

徐志伟 ;

羊舌荣元 .

中国专利 :CN112685358A ,2021-04-20

[4]

一种针对DDR3内存条的FPGA开发板 [P].

曹山 ;

张世平 ;

马秀华 ;

周奇 .

中国专利 :CN208861280U ,2019-05-14

[5]

一种低功耗扫描自测试电路以及自测试方法 [P].

向东 ;

刘博 .

中国专利 :CN106546907B ,2017-03-29

[6]

一种DMA自测试电路 [P].

张荣华 ;

田泽 ;

郭亮 ;

刘浩 ;

张亮 .

中国专利 :CN108226741B ,2018-06-29

[7]

一种基于FPGA的DDR3高分辨粒度读写方法 [P].

张超 ;

邓耀辉 ;

曹绍峰 ;

谭晓峰 ;

黄亮 .

中国专利 :CN115563035B ,2024-08-13

[8]

一种基于FPGA的DDR3高分辨粒度读写方法 [P].

张超 ;

邓耀辉 ;

曹绍峰 ;

谭晓峰 ;

黄亮 .

中国专利 :CN115563035A ,2023-01-03

[9]

一种激励自测试电路 [P].

董妍 ;

王炳文 ;

解文涛 ;

李亚锋 ;

索晓杰 ;

周勇 .

中国专利 :CN108089053A ,2018-05-29

[10]

一种内建自测试电路、内建自测试方法和存储器 [P].

孙圆圆 ;

王佳 ;

张瑞 .

中国专利 :CN119296623A ,2025-01-10

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