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一种晶体内部体缺陷的检测方法

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202411720455.0
申请日：
2024-11-28
公开(公告)号：
CN119198774A
公开(公告)日：
2024-12-27
发明(设计)人：
段玉霞 陈小钰 赵纪祥 孟建桥
申请人：
中南大学
申请人地址：
410083 湖南省长沙市岳麓区麓山南路932号
IPC主分类号：
G01N21/95
IPC分类号：
G01N21/88 G06T7/00 G06T7/11 G06T7/60 G06T7/62 G06T7/73 G06V10/774 G06V10/776 G06V10/82 G06N3/044
代理机构：
长沙欧诺专利代理事务所(普通合伙) 43234
代理人：
欧颖;梁捷
法律状态：
公开
国省代码：
湖南省 长沙市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2024-12-27 公开 公开
2025-03-14 授权 授权
2025-01-14 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/95申请日:20241128
共 50 条
[1]
一种晶体内部体缺陷的检测方法 [P]. 
段玉霞 ;
陈小钰 ;
赵纪祥 ;
孟建桥 .
中国专利 :CN119198774B ,2025-03-14
[2]
一种高空物体内部缺陷的检测方法 [P]. 
刁庶 .
中国专利 :CN117405730A ,2024-01-16
[3]
一种罐体内部缺陷检测方法及系统 [P]. 
尧东升 ;
李永辉 .
中国专利 :CN120741516A ,2025-10-03
[4]
氟化物晶体内部缺陷和残余应力的检测装置及其检测方法 [P]. 
王静雅 ;
张博 ;
刘荣荣 ;
苏良碧 .
中国专利 :CN112179917A ,2021-01-05
[5]
基于色散线扫共聚焦背散射的晶体内部缺陷检测方法 [P]. 
董敬涛 ;
程莹钧 ;
王硕 ;
常凯 ;
赵恩曦 .
中国专利 :CN117740842A ,2024-03-22
[6]
一种罐体内部缺陷尺寸检测方法及装置 [P]. 
刘荣海 ;
刘冠辰 ;
杨迎春 ;
郑欣 ;
于虹 ;
许宏伟 ;
吴章勤 .
中国专利 :CN105674922A ,2016-06-15
[7]
一种晶体内部云雾缺陷的自动化检测装置及方法 [P]. 
段玉霞 ;
赵纪祥 ;
陈小钰 ;
吴亚鹏 ;
孟建桥 .
中国专利 :CN119246538A ,2025-01-03
[8]
一种晶体内部云雾缺陷的自动化检测装置及方法 [P]. 
段玉霞 ;
赵纪祥 ;
陈小钰 ;
吴亚鹏 ;
孟建桥 .
中国专利 :CN119246538B ,2025-03-14
[9]
实时观察胶体晶体内部缺陷的装置及方法 [P]. 
骆意勇 ;
吴兰生 ;
翟永亮 ;
李明 .
中国专利 :CN101308101B ,2008-11-19
[10]
一种硅片内部缺陷检测装置及其检测方法 [P]. 
王振 ;
黄海生 ;
吴国辉 .
中国专利 :CN102954967A ,2013-03-06
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