一种罐体内部缺陷检测方法及系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510862221.8

申请日：

2025-06-25

公开(公告)号：

CN120741516A

公开(公告)日：

2025-10-03

发明(设计)人：

尧东升李永辉

申请人：

广东聚伟制罐有限公司

申请人地址：

523000 广东省东莞市常平镇朗洲工业路51号

IPC主分类号：

G01N21/954

IPC分类号：

G01N21/88 G06F18/2433

代理机构：

北京朱樱望河知识产权代理事务所(普通合伙) 16301

代理人：

邱奇

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-10-03	公开	公开
2025-10-24	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/954申请日:20250625

共 50 条

[1]

一种罐体内部缺陷尺寸检测方法及装置 [P].

刘荣海 ;

刘冠辰 ;

杨迎春 ;

郑欣 ;

于虹 ;

许宏伟 ;

吴章勤 .

中国专利 :CN105674922A ,2016-06-15

[2]

一种罐体内部缺陷尺寸检测装置 [P].

刘荣海 ;

刘冠辰 ;

杨迎春 ;

郑欣 ;

于虹 ;

许宏伟 ;

吴章勤 .

中国专利 :CN205449002U ,2016-08-10

[3]

一种磁瓦内部缺陷检测方法及系统 [P].

张玲胜 .

中国专利 :CN115420772A ,2022-12-02

[4]

一种电缆接头内部缺陷检测方法及系统 [P].

岳涵 ;

伍智鹏 ;

郭远盛 ;

邓大帆 ;

薛斐 ;

陈宣任 ;

李嗣明 ;

林道鸿 .

中国专利 :CN121208069A ,2025-12-26

[5]

一种晶体内部体缺陷的检测方法 [P].

段玉霞 ;

陈小钰 ;

赵纪祥 ;

孟建桥 .

中国专利 :CN119198774B ,2025-03-14

[6]

一种高空物体内部缺陷的检测方法 [P].

刁庶 .

中国专利 :CN117405730A ,2024-01-16

[7]

一种晶体内部体缺陷的检测方法 [P].

段玉霞 ;

陈小钰 ;

赵纪祥 ;

孟建桥 .

中国专利 :CN119198774A ,2024-12-27

[8]

一种易拉罐罐体缺陷检测方法、系统、设备及存储介质 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN118115484A ,2024-05-31

[9]

一种扁平壳体内部缺陷的视觉检测系统 [P].

沈向阳 .

中国专利 :CN120651860A ,2025-09-16

[10]

一种芯片内部缺陷检测方法及系统 [P].

王星泽 ;

倪一帆 .

中国专利 :CN110133014B ,2019-08-16

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