一种利用XRF荧光光谱测定热值的方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411826081.0

申请日：

2024-12-12

公开(公告)号：

CN119290961A

公开(公告)日：

2025-01-10

发明(设计)人：

李会泉石垚石靖靖李志宏张金磊

申请人：

中国科学院过程工程研究所河北贯峰智控科技有限公司

申请人地址：

100190 北京市海淀区中关村北二街1号

IPC主分类号：

G01N25/22

IPC分类号：

G01N23/223

代理机构：

北京品源专利代理有限公司 11332

代理人：

王艳斋

法律状态：

授权

国省代码：

北京市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-11	授权	授权
2025-01-10	公开	公开
2025-01-28	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 25/22申请日:20241212

共 50 条

[1]

一种利用XRF荧光光谱测定热值的方法 [P].

李会泉 ;

石垚 ;

石靖靖 ;

李志宏 ;

张金磊 .

中国专利 :CN119290961B ,2025-04-11

[2]

一种荧光光谱测定水中糖类物质的方法 [P].

钱晨 ;

俞汉青 ;

宫博 .

中国专利 :CN107843579B ,2018-03-27

[3]

利用细胞自发荧光光谱测定细胞周期的方法 [P].

林晓钢 ;

潘英俊 ;

郭永彩 ;

高潮 .

中国专利 :CN101363836A ,2009-02-11

[4]

一种利用XRF荧光光谱仪测定二氧化硅含量的方法 [P].

杨丽 ;

马韵升 ;

王岳华 ;

贾莎莎 ;

许晓莲 ;

王肖 ;

张凯 ;

刘艳霞 ;

韩立霞 .

中国专利 :CN108226202A ,2018-06-29

[5]

一种利用X射线荧光光谱测定铬矿中化学组成的方法 [P].

时晓露 ;

许姝菡 ;

杨秋 ;

余立架 .

中国专利 :CN113533401A ,2021-10-22

[6]

用于荧光光谱测定的光纤光学组件 [P].

马丁·S·皮尔奇 ;

佩里·克莱顿·格雷 ;

理查德·鲁本斯坦 .

中国专利 :CN102362179A ,2012-02-22

[7]

XRF荧光光谱分析仪 [P].

张波 .

中国专利 :CN308738967S ,2024-07-19

[8]

一种利用荧光光谱诊断牙结石的系统 [P].

秦艳利 ;

姚俊 ;

胡杰 ;

王玉富 .

中国专利 :CN102485163A ,2012-06-06

[9]

利用X射线荧光光谱测定明矾石矿石中主次量成分的方法 [P].

夏传波 ;

赵伟 ;

郑建业 ;

姜云 ;

周长祥 .

中国专利 :CN115575432A ,2023-01-06

[10]

利用X射线荧光光谱测定明矾石矿石中主次量成分的方法 [P].

夏传波 ;

赵伟 ;

郑建业 ;

姜云 ;

周长祥 .

中国专利 :CN115575432B ,2024-08-20

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