一种利用XRF荧光光谱测定热值的方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202411826081.0
申请日
2024-12-12
公开(公告)号
CN119290961A
公开(公告)日
2025-01-10
发明(设计)人
李会泉 石垚 石靖靖 李志宏 张金磊
申请人
中国科学院过程工程研究所 河北贯峰智控科技有限公司
申请人地址
100190 北京市海淀区中关村北二街1号
IPC主分类号
G01N25/22
IPC分类号
G01N23/223
代理机构
北京品源专利代理有限公司 11332
代理人
王艳斋
法律状态
授权
国省代码
北京市
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共 50 条
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