一种晶圆检测设备及晶圆检测方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202211439266.7
申请日
2022-11-17
公开(公告)号
CN115815152B
公开(公告)日
2024-12-20
发明(设计)人
顾卫民 张梅 吴熙文 周桃平
申请人
无锡芯启博科技有限公司
申请人地址
214142 江苏省无锡市新吴区汉江路15号26#号厂房一楼房屋B
IPC主分类号
B07C5/344
IPC分类号
H01L21/66 B07C5/02 B08B5/02 B08B15/04
代理机构
苏州国诚专利代理有限公司 32293
代理人
黎兴科
法律状态
授权
国省代码
江苏省 无锡市
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共 50 条
[1]
晶圆检测设备及晶圆检测方法 [P]. 
郭宏雁 ;
杨轩 ;
胡文龙 ;
王俊夫 ;
马驰 .
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[2]
晶圆检测设备及晶圆检测方法 [P]. 
何跃 .
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[3]
晶圆检测设备及晶圆检测方法 [P]. 
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郑隆结 ;
孙会民 .
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[4]
晶圆检测设备及晶圆检测方法 [P]. 
胡俊林 ;
郑隆结 ;
孙会民 .
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[5]
晶圆检测设备的控制方法、晶圆检测方法及晶圆检测设备 [P]. 
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魏新和 ;
董坤玲 ;
段晓炳 ;
吴彦强 ;
杨亭 ;
张谦 ;
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[6]
一种晶圆检测设备及晶圆检测方法 [P]. 
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[7]
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[8]
晶圆检测系统及晶圆检测设备 [P]. 
陈韦志 ;
游本懋 ;
林怡彦 .
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[9]
晶圆检测结构及晶圆检测设备 [P]. 
刘桂林 ;
徐焕 ;
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杜振东 ;
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王坤 ;
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[10]
晶圆检测系统及晶圆检测设备 [P]. 
陈韦志 ;
游本懋 ;
林怡彦 .
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