用于通过X射线辐射检测容器的设备和方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202380044919.8

申请日：

2023-03-30

公开(公告)号：

CN119343598A

公开(公告)日：

2025-01-21

发明(设计)人：

T·古特

申请人：

克朗斯股份公司

申请人地址：

德国新特劳布林

IPC主分类号：

G01N23/083

IPC分类号：

G01F23/288

代理机构：

北京市铸成律师事务所 11313

代理人：

王沫;李文颖

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-01-21	公开	公开
2025-02-14	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 23/083申请日:20230330

共 50 条

[1]

用于检测x射线辐射的装置和方法 [P].

O·施密特 ;

P·比歇勒 ;

R·菲舍尔 ;

S·F·特德 .

中国专利 :CN107272045A ,2017-10-20

[2]

用于产生X射线辐射的方法和设备 [P].

F·维冈德 .

中国专利 :CN103703869A ,2014-04-02

[3]

用于通过X射线辐射检查测试对象的X射线测量装置以及用于通过X射线辐射检查测试对象的方法 [P].

M·克伦克尔 ;

B·罗索普特 ;

W·金米格 ;

C·库恩 ;

D·斯塔尔 ;

C·沃耶克 .

德国专利 :CN120035758A ,2025-05-23

[4]

X射线源和用于控制X射线辐射的方法 [P].

卡尔曼·费什曼 ;

布莱恩·帕特里克·威尔弗莱 ;

克里斯托弗·W·埃勒诺 ;

唐纳德·奥尔加多 ;

顾纯元 ;

托比亚斯·芬克 ;

佩特·瓦塔霍夫 ;

克里斯托弗·R·米切尔 .

中国专利 :CN110382047B ,2019-10-25

[5]

X射线辐射的检测和X射线检测器系统 [P].

E.戈德尔 ;

D.尼德洛纳 ;

M.斯特拉斯伯格 ;

S.沃思 ;

P.哈肯施密德 ;

S.卡普勒 ;

B.克赖斯勒 ;

M.拉巴延德英扎 ;

M.莱因万德 ;

C.施勒特 .

中国专利 :CN104641256B ,2015-05-20

[6]

用于通过定位X射线源来减少暴露于X射线辐射的系统和方法 [P].

L·萨利希 ;

J·福托希 ;

A·辛哈 ;

R·Q·埃尔坎普 ;

V·S·帕伊赖卡尔 ;

S·凯恩 .

:CN120322198A ,2025-07-15

[7]

X射线辐射的检测 [P].

E.戈德尔 ;

S.卡普勒 .

中国专利 :CN104459756B ,2018-06-08

[8]

X射线设备和用于运行X射线设备的方法 [P].

迈克尔·维奇 ;

菲利普·维奇 .

中国专利 :CN110786874A ,2020-02-14

[9]

用于探测X射线辐射的装置、成像设备和方法 [P].

R·斯特德曼 ;

G·蔡特勒 ;

C·赫尔曼 ;

C·博伊默 .

中国专利 :CN101529274B ,2009-09-09

[10]

X射线阳极、X射线辐射器和用于制造X射线阳极的方法 [P].

安雅·弗里泰茨勒 ;

彼得·盖特纳 ;

彼得拉·莫勒 ;

托马斯·韦伯 ;

布里吉特尔·斯特勒 .

中国专利 :CN115116810A ,2022-09-27

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