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用于检测x射线辐射的装置和方法

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201710224952.5
申请日：
2017-04-07
公开(公告)号：
CN107272045A
公开(公告)日：
2017-10-20
发明(设计)人：
O·施密特 P·比歇勒 R·菲舍尔 S·F·特德
申请人：
申请人地址：
德国埃朗根
IPC主分类号：
G01T124
IPC分类号：
G01T700 G01N2304 H01L5142 H01L5148
代理机构：
北京市金杜律师事务所 11256
代理人：
王茂华;潘聪
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2017-11-17 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):G01T 1/24 申请日:20170407
2021-05-14 发明专利申请公布后的驳回 发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01T 1/24 申请公布日:20171020
2017-10-20 公开 公开
共 50 条
[1]
X射线源和用于控制X射线辐射的方法 [P]. 
卡尔曼·费什曼 ;
布莱恩·帕特里克·威尔弗莱 ;
克里斯托弗·W·埃勒诺 ;
唐纳德·奥尔加多 ;
顾纯元 ;
托比亚斯·芬克 ;
佩特·瓦塔霍夫 ;
克里斯托弗·R·米切尔 .
中国专利 :CN110382047B ,2019-10-25
[2]
用于产生X射线辐射的装置和方法 [P]. 
F·维冈德 .
中国专利 :CN103717261B ,2014-04-09
[3]
X射线辐射的检测和X射线检测器系统 [P]. 
E.戈德尔 ;
D.尼德洛纳 ;
M.斯特拉斯伯格 ;
S.沃思 ;
P.哈肯施密德 ;
S.卡普勒 ;
B.克赖斯勒 ;
M.拉巴延德英扎 ;
M.莱因万德 ;
C.施勒特 .
中国专利 :CN104641256B ,2015-05-20
[4]
X射线辐射的检测 [P]. 
E.戈德尔 ;
S.卡普勒 .
中国专利 :CN104459756B ,2018-06-08
[5]
用于通过X射线辐射检测容器的设备和方法 [P]. 
T·古特 .
德国专利 :CN119343598A ,2025-01-21
[6]
用于生成X射线辐射的X射线源装置 [P]. 
O·沃伊沃德 ;
D·巴尔特 ;
A·根西奥 ;
J·韦伯 .
中国专利 :CN110199575A ,2019-09-03
[7]
X射线阳极、X射线辐射器和用于制造X射线阳极的方法 [P]. 
安雅·弗里泰茨勒 ;
彼得·盖特纳 ;
彼得拉·莫勒 ;
托马斯·韦伯 ;
布里吉特尔·斯特勒 .
中国专利 :CN115116810A ,2022-09-27
[8]
X射线阳极、X射线辐射器和用于制造X射线阳极的方法 [P]. 
安雅·弗里泰茨勒 ;
彼得·盖特纳 ;
彼得拉·莫勒 ;
托马斯·韦伯 ;
布里吉特尔·斯特勒 .
中国专利 :CN110957201B ,2020-04-03
[9]
用于产生x射线辐射的方法和系统 [P]. 
汉斯·M·赫茨 ;
迈克尔·奥滕达尔 ;
托米·图希玛 .
中国专利 :CN101490790B ,2009-07-22
[10]
用于产生X射线辐射的方法和设备 [P]. 
F·维冈德 .
中国专利 :CN103703869A ,2014-04-02
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