用于非接触检测半导体衬底温度的拉曼光谱方法和装置

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专利类型
发明
申请号
CN201911093693.2
申请日
2019-11-11
公开(公告)号
CN110779633B
公开(公告)日
2025-01-24
发明(设计)人
邵军 王炜 陈熙仁
申请人
中国科学院上海技术物理研究所
申请人地址
200083 上海市虹口区玉田路500号
IPC主分类号
G01K11/00
IPC分类号
G01N21/65 G01J3/02 G01J3/44
代理机构
上海沪慧律师事务所 31311
代理人
郭英
法律状态
授权
国省代码
北京市
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共 50 条
[1]
用于非接触检测半导体衬底温度的拉曼光谱方法和装置 [P]. 
邵军 ;
王炜 ;
陈熙仁 .
中国专利 :CN110779633A ,2020-02-11
[2]
一种非接触测量气体成分和温度的拉曼光谱装置及方法 [P]. 
杨德旺 ;
王勇梅 ;
李文华 ;
刘福祥 ;
蔺楚尧 ;
何启民 .
中国专利 :CN119198679A ,2024-12-27
[3]
拉曼光谱检测设备和拉曼光谱检测方法 [P]. 
王红球 ;
左佳倩 ;
刘海辉 .
中国专利 :CN107991283A ,2018-05-04
[4]
确定半导体衬底温度的方法和装置 [P]. 
斯丹·科尔迪克 ;
麦因迪特·M·鲁宁伯格 ;
让-菲利普·雅克曼 .
中国专利 :CN101427116B ,2009-05-06
[5]
拉曼光谱检测设备和拉曼光谱检测设备的安全监控方法 [P]. 
张建红 ;
王安凯 ;
王红球 ;
范锐 ;
奉华成 .
中国专利 :CN106770176A ,2017-05-31
[6]
用于检测半导体衬底厚度的装置和方法 [P]. 
安德烈亚斯·伯纳德斯·玛丽亚·扬斯曼 ;
弗朗西斯科斯·皮特鲁斯·韦德索文 ;
维特·桑迪·恩 .
中国专利 :CN107871676A ,2018-04-03
[7]
用于在半导体衬底上构造接触部的方法和半导体装置 [P]. 
T·辛纳 ;
M·格里布 .
中国专利 :CN104170062A ,2014-11-26
[8]
拉曼光谱检测设备和方法 [P]. 
刘海辉 ;
王红球 ;
张建红 .
中国专利 :CN107884389A ,2018-04-06
[9]
用于自动校准拉曼光谱检测系统的方法及拉曼光谱检测系统 [P]. 
陈志强 ;
张丽 ;
李元景 ;
刘以农 ;
赵自然 ;
王红球 ;
俞冬梅 ;
盖洪峰 ;
李明亮 .
中国专利 :CN102297856B ,2011-12-28
[10]
用于拉曼光谱检测的安全防护装置和拉曼光谱检测系统 [P]. 
宁岩实 ;
张丽 ;
王红球 ;
易裕民 ;
张士新 .
中国专利 :CN205262968U ,2016-05-25